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菲希爾X射線測厚儀XULM240信息
閱讀：140 發(fā)布時間：2025-4-22菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240
用途廣泛：適用于多種鍍層厚度測量場景。
靈活測量：通過組合可選的高壓和濾片，對較薄鍍層（如 50 nm Au 或 100 μm Sn）與較厚鍍層均可實現(xiàn)同等效果測量。
微小測量：配備微聚焦管，可精準測量 100 μm 大小的微小測量點。
高效計數(shù)：比例計數(shù)器能實現(xiàn)數(shù)千 cps（每秒計數(shù)率）的高計數(shù)率。
便捷操作：采用從下至上的射線方向，樣品放置快速簡便。
大容量艙：底部 C 型開槽的大容量測量艙，方便容納更多樣品。
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240典型應用領域
線路板工業(yè)：測量 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB 中的鍍層。
電子行業(yè)：檢測接插件和觸點上的鍍層。
裝飾領域：用于裝飾性鍍層 Cr/Ni/Cu/ABS 的測量。
電鍍工業(yè)：測量大規(guī)模生產(chǎn)零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護層 Zn/Fe，ZnNi/Fe 等電鍍鍍層。
珠寶鐘表行業(yè)：適用于珠寶和鐘表工業(yè)的鍍層測量。
電鍍液分析：可測量電鍍液中金屬成分含量。