菲希尔X射线荧光测厚仪XUL小型台式

低能射线元件激发效率较低；但是对于标准的测量典型电镀层厚度的应用，如Cr、Ni、Cu，没有任何问题。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款、设计紧凑、应用广泛的 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。

典型的应用领域有:

·在小部件，如螺钉、螺栓和螺帽上的测量

·在连接器和电气元件上的测量

·电镀液的溶液成分分析

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。依靠FISCHER的基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL 220 是用户界面友好的台式测量仪。配备手动XY轴工作台，用于细小样品的精确定位。

为了样品定位简单快捷，X射线发生器和比例接收器都集成在仪器下部舱室中，因而样品的底部是实际被测量面，样品则由一层透明的薄膜托放在测量室中。

虽然仪器采用了紧凑型设计，但是其配置的超大测量室，使得对大型工件的测量也是同样的得心应手。

所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM@ 软件在电脑上完成。