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二手電鏡JSM-6510
功能/應(yīng)用范圍：應(yīng)用于無機(jī)材料、高分子材料、復(fù)合材料、納米材料、半導(dǎo)體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結(jié)構(gòu)觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質(zhì)分析 ? 微區(qū)成份分析；材料分析，檢測機(jī)構(gòu)，研發(fā)企業(yè)。

二手電鏡JSM-6510：主要技術(shù)指標(biāo)：

物鏡采用強(qiáng)勵(lì)磁設(shè)計(jì)――象差小、分辨率高 1.0nm（15kV時(shí)） 2.2nm（1kV時(shí)） 使其更適合于材料表層和納米材料的觀察  ?能譜儀分析元素范圍4Be`92U，能量分辨率130ev； 技術(shù)特色： 由熱陰極電子槍發(fā)射出的電子在電場作用下加速，經(jīng)過電磁透鏡的作用，在樣品表面聚焦成為極細(xì)的電子束，該細(xì)電子束在雙偏轉(zhuǎn)線圈的作用下，在樣品表面掃描。 被加速電子束與樣品室中的樣品相互作用，激發(fā)產(chǎn)生各種物理信號(hào)，通過對(duì)其中某種物理信號(hào)的檢測、視頻放大和信號(hào)處理，調(diào)制陰極射線管的電子束強(qiáng)度，從而在CRT熒光屏上獲得能反映樣品表面特征的掃描圖象。

二手電鏡JSM-6510  ：參數(shù)

1．二次電子像分辨率：1.0nm（15kv）/2.2nm（1kv）

2．背散射電子像分辨率：3nm（15kv，WD=8mm） 

3. EDS分辨率: MnKa小于136eV 4. EDS 元素分析范圍：B5-U92 儀器主要附件:

1．背散射電子探頭

2．英國OXFORD公司INCA EDS 樣品要求：低放氣；導(dǎo)電（非導(dǎo)電體需要噴金處理）；直徑小于20mm，高度低于10mm能牢固固定 ? 二次電子分辨率：1.0nm（加速電壓15kV）?2.2nm(加速電壓1kV)? 放大倍數(shù)：低倍：×25-×19000 高倍：×100-×650000 ? 樣品臺(tái)尺寸：ф12.5-ф26mm? 試樣移動(dòng)范圍： X范圍：0-70mm Y范圍：0-50mm Z范圍：1.5-25mm（連續(xù)旋轉(zhuǎn)） 角度360° 傾斜：-5-60° 加速電壓：0-20kV? 電流：0-15mA? 掃描模式：SEI，COMPO

一、技術(shù)指標(biāo)：
二次電子分辨率：1.0nm（加速電壓15kV） 2.2nm(加速電壓1kV)
放大倍數(shù)：低倍：×25-×19000
          高倍：×100-×650000
樣品臺(tái)尺寸：ф12.5-ф26mm
試樣移動(dòng)范圍：X范圍：0-70mm
              Y范圍：0-50mm
              Z范圍：1.5-25mm（連續(xù)旋轉(zhuǎn)）角度360°
              傾斜：-5-60°
加速電壓：0-20kV
電流：0-15mA
掃描模式：SEI，COMPO
二、技術(shù)特點(diǎn)：主要特點(diǎn)為冷場發(fā)射電子槍，強(qiáng)勵(lì)磁圓錐透鏡 ，高度集成化和自動(dòng)化。
三、主要用途：主要用于納米材料顯微結(jié)構(gòu)、尺寸分析 ，材料微結(jié)構(gòu)、相組成及相分布分析 ，材料中元素定性分析、定量分析、線分析、面分析、材料失效分析。