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GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時測試4個樣品）

GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時測試4個樣品）

關(guān)鍵詞：高溫介電測試溫譜儀、高溫介電性能測量系統(tǒng)、高溫介溫譜能系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹：

   GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測

試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其

他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。

一、產(chǎn)品優(yōu)勢:

1.耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好.

2.四通道測試,可以同時測試1-4個樣品，方便快捷

3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)

二、《符合ASTMD150和 D2149-97標準>>

<<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法;》

三、產(chǎn)品特點

1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能；

2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能;

3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質(zhì)因數(shù)Q，阻抗Z等物理量;以實現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線，時間和電壓變化的曲線；

4、可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求。

主要技術(shù)指標：