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Phasics近红外波前分析仪SID4-SWIR
近日，法国Phasics为满足客户需求，推出基于的四波横向剪切干涉技术和高性能InGaAs探测器的高性价比SID4-SWIR近红外波前分析仪，波段范围900-1700nm，采样点数量高达5120（80*64），灵敏度2nm，动态范围100μm，采样频率120Hz。
SID4-SWIR近红外波前分析仪具有非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
关于Phasics：法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于其的四波横向剪切干涉技术。相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等*的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析等提供了全新的解决方案。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求。
关于上海屹持：上海屹持光电技术有限公司作为Phasics中国区域代理商，同时也是一家专业从事激光领域相关产品的研发、引进、销售、方案设计、组装集成、技术服务的现代高科技企业。团队成员具有专业光电背景和*从业经验，利用自身的专业优势将*的科研设备及服务提供给用户。从单个产品到整体解决方案，从商务服务到，均获得了广大用户的肯定和信赖。
Phasics近红外波前分析仪SID4-SWIR
主要应用领域：
激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数
自适应光学：焦斑优化，光束整形
元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径
光学系统质量分析：MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制
热成像分析，等离子体特征分析
生物应用：蛋白质等组织定量相位成像
Phasics波前分析仪产品列表：
Phasics近红外波前分析仪SID4-SWIR
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