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詳細(xì)摘要： -Filmetrics膜厚測量儀：以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模...

詳細(xì)摘要： -Filmetrics膜厚測量儀：以真空鍍膜為設(shè)計目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需傳統(tǒng)價格的一小部分，用戶就能進(jìn)行低/高分析、確定...

詳細(xì)摘要： -Filmetrics膜厚測量儀 F60-t 系列就像我們的 F50產(chǎn)品一樣測繪薄膜厚度和折射率，但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。 這些功能包括凹槽自動檢測、...

詳細(xì)摘要： -Filmetrics光學(xué)薄膜厚度測量儀：依靠F50的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，可以非...

詳細(xì)摘要： Filmetrics F40-EXR 搭配 SS-Microscope-EXR-1系統(tǒng)-Filmetrics膜厚測量儀的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜...