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[供应]MC-2010A型手持式涂镀层测厚仪
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  • MC-2010A型手持式涂镀层测厚仪
货物所在地:
山东临沂市
更新时间:
2021-11-10 21:00:07
有效期:
2021年11月10日 -- 2022年5月10日
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产品简介

MC-2010A型手持式涂镀层测厚仪产品简介



MC-2010A型涂(镀)层测厚仪是*的结晶。涂层测厚仪采用单片机技术,测量精度高、数字显示、操作简单方便、触摸按键、内置探头全量程测量、体积小、重量轻; 强大的抗*力,求值更稳定;且具有低电压指示、统计、系统/零点/两点校准功能,其性能已达到当代同类仪器的*水平。 MC-2010A涂层测厚仪是一款经济型通

详细介绍

 

 

MC-2010A型手持式涂镀层测厚仪工作原理

MC-2010A型涂(镀)层测厚仪采用电磁感应法测量涂(镀)层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂(镀)层厚度。

 

MC-2010A型涂(镀)层测厚仪产品简介

MC-2010A型涂(镀)层测厚仪是*的结晶。涂层测厚仪采用单片机技术,测量精度高、数字显示、操作简单方便、触摸按键、内置探头全量程测量、体积小、重量轻; 强大的抗*力,求值更稳定;且具有低电压指示、统计、系统/零点/两点校准功能,其性能已达到当代同类仪器的*水平。 MC-2010A涂层测厚仪是一款经济型通用涂层测厚仪,其产品优势为:性能与进口测厚仪性能一样好,操作简单,测试速度快,灵敏度好,测量精度高。

 

   MC-2010A涂层测厚仪可应用在无损、快速和高精度涂镀层测厚领域。它是油漆、防腐蚀、电镀、汽车工业、轮船运输、飞机制造等相关行业理想的辅助制造生产工具。它可以稳定地工作于实验室,车间现场和户外。

 

   我公司具有20年的测厚仪专业研发生产经验,力求给您zui的品质体验。MC-2010A涂层测厚仪为内置测量探头,该涂层探头的探点加入一种PIONEO超硬涂层,用于强化表面,其厚度仅为1毫米的千分之几,但却有超乎想象的高强硬度和高耐磨性。这种全新的深层技术已经嵌入到部件中,其测量误差、耐磨性比其它同类仪器又提高了一个档次。

 

 

MC-2010A型涂镀层测厚仪应用范围

本仪器采用磁性测厚法,可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

 

二、MC-2010A型涂镀层测厚仪产品性能

MC-2010A型涂镀层测厚仪技术参数

1、测量范围:0~1200um

2、测量误差:<3%±1um

3、zui小示值:1um

  • 4、显示方式: 4位液晶数字显示

5、主要功能:

   (1).测量:内置探头全量程测厚

   (2).统计:设有三个统计量:平均值、zui大值、zui小值

   (3).校准:可进行零点校准、两点校准及系统校准

   (4).电量:具有欠压显示功能

   (5).蜂鸣提示:操作过程中有蜂鸣提示

   (6).关机:具有自动关机和手动关机两种方式

6、电源:  两节1.5v电池

7、功耗:  zui大功耗90mw

8、外形尺寸:112mm*44mm*25mm

9、重量:    100g(含电池)

10、使用环境温度: 0℃~+40℃  相对湿度:不大于90%

11、基体zui小厚度: 0.5mm

12、基体zui小平面的直径: 7mm

13、zui小曲率半径: 凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠电压指示:   右上角显示""

*临界厚度值:工件铁基厚度大于1mm时,其涂(镀)层厚度的测量不受铁基厚度影响。

三、MC-2010A型涂层测厚仪配置单

 1、涂层测厚仪MC-2010A                  一台

 2、1.5v电池 (7号)                      二节

 3、标准样片              一盒

 4、标准铁基                            一块

 5、小铝箱                              一个

 6、说明书、合格证                      一套

MC-2010A型手持式涂镀层测厚仪校准方法

涂(镀)层测厚仪可能会出现测什么厚度都显“0”,或精度达不到,我们可以通过系统初始化设置进行系统恢复。系统初始化是这样的:在关机状态下,同时按住“▲▼”键不动,然后按一下“ON/OFF”键,直到屏幕显示“OK”。松开“▲▼”键,初始化设置即可完成。此时仪器显示“铁基”或“基体”,仪器进入系统状态,按照系统校准的方法,校准完成后即可正常测量。系统校准过程是这样的:在关机状态下,同时按住“MENU”键和“ON/OFF”键,先放开“ON/OFF”键,然后放开“MENU”键,即可进入系统校准模式。本系统校准共需要校准五个标准样片,进入系统后显示“铁基”或“基体”界面,此时要把探头垂直的放到被测件的裸露基体上进行测量。测量两次后如果测量没有错误,伴随着两声蜂鸣便进入*个样片的测量。液晶显示出厂时提供的*个样片值。如果显示值和真实值不符,可以通过“▲▼”键进行加或减操作。按住“▲”或“▼”键不动可以连续加或减,直到调到显示值与真实值相同为止。调整完样片值之后即可对*个样片进行测量,测量两次无误后,伴随着两声蜂鸣,仪器进入下一个样片的校准。若测量两次仍没有两声蜂鸣,说明操作有误,重新测量一次即可。接下来四个样片的调整方法同上。当第五个样片校准完成后,液晶上显示“0000”,进入开机界面如图A或图B,仪器此时完成了系统校准过程,就可以对被测件直接进行测量。
 

 

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