武汉安德信快速升降温试验箱能在短时间内实现较大范围的温度变化，可在几分钟甚至更短时间内从高温（如 100℃）快速降至低温（如 - 40℃），或者反之，有助于检测光器件光纤通信产品应对温度骤变的能力。

一、模拟实际工作环境：光器件产品在实际应用中可能会面临各种温度条件，如在户外高温环境或寒冷地区的低温环境下工作。安德信快速升降温试验箱可以模拟这些实际工作环境中的极限温度，帮助检测光器件光纤通信产品在不同温度条件下的性能表现，确保其在实际使用中能够稳定可靠地工作。

二、加速寿命测试：通过在试验箱中设置高温和低温循环测试，可以加速光器件产品的老化过程，在较短的时间内评估产品的寿命和可靠性。这有助于企业在产品研发阶段及时发现潜在问题，优化产品设计，提高产品质量，减少产品在实际使用中的故障率。

三、检测材料兼容性：光器件产品通常由多种材料组成，不同材料在不同温度下的热膨胀系数等物理特性可能不同。通过各种温度测试，可以检测材料之间的兼容性，发现因温度变化导致的材料变形、开裂、脱落等问题，从而选择合适的材料和工艺，提高产品的结构稳定性。

四、武汉安德信快速升降温试验箱技术参数

型号：ADX-QT-225B。

内箱尺寸：500mm(W)×500mm(H)×400mm(D)。

温度范围：-40℃∽150℃。

温度波动度：≤±0.5℃。

温度偏差：≤±2℃。

升温时间：-40℃∽+85℃，升温速度 10℃/min (非线性) 约 13 分钟。

降温时间：85℃∽-40℃，降温速度 10℃/min (非线性) 约 13 分钟。