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Phasics波前探測器,高分辨,紫外波段
  • Phasics波前探測器,高分辨,紫外波段

貨物所在地:國外

地: 英國

更新時間:2024-12-20 21:00:07

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法國Phasics公司擁有自主研發(fā)的高分辨率波前探測器,這種儀器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)而設(shè)計的。由于Phasics波前探測器具有高動態(tài)檢測范圍、消色差、高分辨率、消色差、操作簡便,高靈敏度等優(yōu)勢,Phasics波前探測器,高分辨,紫外波段

Phasics公司基于其創(chuàng)新的高分辨率波前傳感技為客戶提供全方的測量和成像解決方案,以滿足激光工程師,鏡片生產(chǎn)商和細胞生物學家的需求。

基于四波橫向剪切的波前傳感器的工作波長范圍從紫外到遠紅外,典型的應(yīng)用包括激光束測量和校正以及透鏡測試?;谒牟M向剪切的波前傳感器具有高的分辨率,也為波前分析的創(chuàng)新應(yīng)用開辟了新的道路,如等離子體密度測量或定量相位成像顯微鏡,如生命科學、材料檢驗和熱成像。

法國Phasics公司擁有自主研發(fā)的波前傳感器,這種儀器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)而設(shè)計的。SID4系列波前探測器與傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器比較,法國Phasics波前分析儀具有高動態(tài)檢測范圍、消色差、高分辨率、消色差、操作簡便,高靈敏度等優(yōu)勢。可以向波前畸變、波前相差探測以及光束質(zhì)量及波前參數(shù)的測量、分析;眼科的虹膜定位以及波前像差引導(dǎo)等提供了完整的優(yōu)秀的解決方案!PHASICS波前探測器軟件界面具有易用性,能夠明了的輸出高分辨率的相位圖和光束強度的分布圖。

本文的產(chǎn)品主要有:適用于常用波段的SID4波前傳感器;  用于紅外波段的型號:SID4 DWIR, SID4 LWIR, SID4-SWIR, SID4-NIR; 高分辨率的SID4 UV-HR,  SID4-HR; 最后是深紫外波段的SID4-UVSID4 UV-HR。所有的波段都能夠有適合的產(chǎn)品為您提供,并且有高采樣點的型號和普通標準的型號等等。Phasics波前探測器,高分辨,紫外波段


法國Phasics SID4 波前傳感器的特點:

SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差,強度分布,波前位相、澤尼克參數(shù), 激光的M2等進行實時的測量及參數(shù)輸出。

-可直接測量:消色差設(shè)計,測量前無需再次對波長校準,消色差:干涉和衍射對波長相消

-高分辨率:最多采樣點可達120000個(160x120),測量穩(wěn)定性高

-內(nèi)部光柵橫向剪切干涉,防震設(shè)計,無需隔震平臺也可測試,對實驗條件要求簡單

-高動態(tài)范圍:高達500μm

-波長范圍:400-1100nm

SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器的特點:

Phasics公司將 SID4的測量波長范圍:190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前探測器,非常適用于光學元件測量(例如印刷、半導(dǎo)體等等)和表面檢測(半導(dǎo)體晶片檢測等)。

-高分辨率(250x250

-通光孔徑大(8.0mmx8.0mm

-覆蓋紫外光譜

-靈敏度高(0.5um

-優(yōu)化信噪比


SID4-HR 波前相差儀特點:

能夠進行對透鏡、光學系統(tǒng)實時的PSF(點擴散函數(shù))、OTF(光學傳遞函數(shù))、MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))以及波前像差測量和參數(shù)輸出。與傳統(tǒng)的透鏡檢測設(shè)備比較:干涉儀,傳函儀、具有測量精度高,操作簡便,參數(shù)輸出方便等優(yōu)勢。

-曝光時間極短,保證動態(tài)物體測量

-波長范圍:400-1100nm

-實時測量,立即給出整個物體表面的信息(120000個測量點)

-高性能的相機,信噪比高,操作簡單


SID4 NIR 波前分析儀

其主要針對1550 nm1.5um-1.6um)激光進行檢測的儀器,具有分辨率高,高動態(tài)范圍、高靈敏度、操作簡便等優(yōu)勢。是紅外透鏡像差,光學測量和紅外物體、MTF,PSF以及焦距和表面質(zhì)量測量的理想工具。

-高分辨率(160x120

-快速測量

-絕對測量

-對振動不敏感

-性價比高


SID4 UV 波前分析儀

其主要針對250-450nm激光進行檢測的儀器,具有分辨率高,高動態(tài)范圍、高靈敏度、操作簡便等優(yōu)勢。適用于UV光學測試,UV激光表征(用于光刻,半導(dǎo)體......)和表面檢測(透鏡和晶圓......)光學測量和MTF,PSF以及焦距測量。

-非常高的分辨率-250×250相位圖

-高靈敏度 - 2 nm RMS

-經(jīng)濟實惠的紫外波前測量解決方案


SID4 DWIR/ SID4 LWIR/ SID4-SWIR波前儀

擁有寬波段波前探測的特點。實時的檢測3-5um以及8-14um的強度分布和波前位相等的波前信息??梢院芎玫膽?yīng)用于紅外波段應(yīng)用的波前檢測需求。

-光學測量:SID4 DWIR是測量紅外物體特性(熱成像和安全視覺)或紅外透鏡(CO2激光器)的理想工具,輸出結(jié)果包括MTF,PSF,像差,表面質(zhì)量和透鏡焦距。

-光束測量:(CO2激光器,紅外OPO激光光源等等)此型號可以提供詳盡的光束特性參數(shù):M2,像差,光束特性,光強分布等

-可實現(xiàn)離軸測量,可實現(xiàn)絕對測量,性價比高

-高分辨率(96x72,快速測量 對振動不敏感

-可覆蓋中紅外和遠紅外波段 大數(shù)值孔徑測量,無需額外中轉(zhuǎn)透鏡


法國Phasics波前相差儀主要應(yīng)用:

-光學系統(tǒng)質(zhì)量分析:MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數(shù), 光學鏡頭/系統(tǒng)質(zhì)量控制

-激光光束參數(shù)測量:相位(2D/3D),M2,束腰位置,直徑,澤尼克/勒讓德系數(shù)

-生物應(yīng)用:蛋白質(zhì)等組織定量相位成像

-自適應(yīng)光學:焦斑優(yōu)化,光束整形

-熱成像分析,等離子體特征分析

-元器件表面質(zhì)量分析:表面質(zhì)量(RMS,PtVWFE),曲率半徑

法國Phasics波前探測器參數(shù)規(guī)格對比

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夏克哈特曼和四波橫向剪切干涉波前分析儀對比表

5.png

總體而言,在空間分辨率和靈敏度而言基于剪切干涉技術(shù)的波前分析儀都比夏克哈特曼為基礎(chǔ)的波前分析儀要更為優(yōu)秀。采樣點更多,準確度更高分辨率也更高。安裝便捷,配套的軟件功能豐富。基于傅里葉變換,將時域轉(zhuǎn)換為頻域分析使得其不依賴光強變化,更加的敏感,但可能不能估計光強的變化。一定條件下,它是選擇作為激光質(zhì)量分析,透鏡質(zhì)量監(jiān)控,光學表面測量,以及成像的更優(yōu)選擇。Phasics波前探測器,高分辨,紫外波段




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