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当前位置：> 供求商机> 美国奥林巴斯OLS41003D测量激光显微镜中国哪里有卖家
详解：
更大的样品范围
轻松检测85° 尖锐角
采用了有着高N.A. 的物镜和光学系统（能zui大限度发挥405 nm 激光性能），LEXT OLS4100 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。这有利于粗糙度的测量。
(MPLAPON50XLEXT)
高度差标准 类型B, PTB-5, Institut für Mikroelektronik, Germany, 6 nm 高度测量中的检测 由于采用405 nm 的短波长激光和更高数值孔径的物镜，OLS4100 达到了0.12 μm 的平面分辨率。因此，可以对样品的表面进行亚微米的测量。
OLS4100 采用了双共焦系统，结合高灵敏度的探测器，那些具有不同反射率材料的样品，也能在OLS4100 上获得鲜明的影像。
适用于透明层
多层模式
LEXT OLS4100 全新的多层模式则可以识别多层样品各层上反射光强度的峰值区域，并将各层设为焦点，这样即可实现对透明样品上表面的观察和测量，而且也可以对多层样品的各层进行分析和厚度测量。
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