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產(chǎn)品創(chuàng)新點
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
SPM-Nanoa原子力顯微鏡性能特點：
自動觀察
自動完成光路調(diào)整、掃描參數(shù)設(shè)定、圖像處理
使用標準樣品和標準探針時操作用時5分鐘*
*自動觀察模式，掃描范圍1um× 1um ，256×256點陣。操作時長依賴于操作者。
性能優(yōu)異
從光學(xué)顯微鏡到SPM/AFM，各模式下均可清晰地捕捉圖像
利用光學(xué)顯微鏡搜索目標區(qū)域，利用SPM可以方便地進行高分辨率觀察。利用與表面形狀圖像相同的視場可以獲得其他物理特性信息。
樣品：硅基底上的二氧化硅圖案
豐富多樣的掃描模式
從形貌觀察到基于力曲線測量的物性分析，支持廣泛的掃描模式。這意味著可以兼顧高分辨率與物性測試。
| 形貌 | 接觸模式、動態(tài)模式 |
|---|---|
| 機械性能 | 相位模式、側(cè)向力模式、力調(diào)制模式、Nano 3D Mapping Fast * |
| 電磁學(xué) | 電流模式* 、磁力模式* 、表面電勢模式* 、壓電力模式* 、STM * |
| 納米加工 | 矢量掃描模式* |
| 環(huán)境支持 | 液體環(huán)境* |
搜尋目標區(qū)域更容易
利用清晰地光學(xué)顯微鏡圖像，可以輕松找到目標區(qū)域，不用擔心振動的影響。
SPM-Nanoa集成了一體式高性能光學(xué)顯微鏡。
樣品視野
使用集成光學(xué)顯微鏡，樣品表面的3um間隔圖案清晰可見。
高分辨觀察表面物性
極軟樣品的變形或樣品局部的機械及電氣性能的差異，都可以獲得高分辨率的觀測圖像。
用表面電勢模式觀察云母基底上的金納米顆粒
該圖顯示了0.2um范圍內(nèi)的表面電勢（右）和形貌圖像（左）
8K成像助力大范圍高分辨掃描
最大可支持8K（81929192）掃描點陣，大范圍區(qū)域的小細節(jié)也纖毫畢現(xiàn)。
觀察金屬蒸鍍膜
省時高效
支持功能功能模式高速觀察
通過高速觀察和物性高速成譜功能，顯著減少了觀測時間。
探針更換工具和樣品更換機構(gòu)有效縮短了掃描準備時間。
高通量觀測
高速物性成譜
簡便順滑地樣品更換
便捷更換探針
高通量觀測
高速物性成譜
采用了可實現(xiàn)高速響應(yīng)的HT掃描器并優(yōu)化了控制算法，從而大幅縮短了觀察和物性成像的數(shù)據(jù)獲取時間
簡便順滑地樣品更換
高速物性成譜
一鍵式操作實現(xiàn)自動開啟、關(guān)閉平臺，放置和取出樣品。
由于固定了激光的照射位置，所以在樣品更換后可立即進行觀察。
探針更換簡單且可靠 Cantilever Master（選購）
僅需將探針放置在指定的位置，并使其沿著導(dǎo)軌滑動即可安裝，即使操作人員不習慣使用鑷子，也能夠簡單準確地進行操作。
