儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（絕緣片材、導(dǎo)熱樹(shù)脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng)）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法）；ASTM D5470-2006（薄的熱導(dǎo)性固體電絕緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）等。
儀器特點(diǎn)：帶自動(dòng)加壓，自動(dòng)測(cè)厚裝置，并連計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測(cè)，提高了測(cè)試精度?？蓹z測(cè)不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型，可測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數(shù)。
廣泛應(yīng)用在高等院校，科研單位，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料導(dǎo)熱分析檢測(cè)。
主要技術(shù)參數(shù)
1、試樣大?。?le;Φ30mm
2、試樣厚度：0.02-20mm
3、熱極控溫范圍：室溫-350.00℃,控溫精度0.01℃
4、冷極控溫范圍：0-99.00℃,控溫精度0.01℃
5、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：0.01～50W/m*k,1～300W/m*k
6、熱阻測(cè)試范圍：0.05～0.000005m2*K/W
7、壓力測(cè)量范圍：0～1000N
8、位移測(cè)量范圍：0～30.00mm
9、測(cè)試精度：優(yōu)于3%
10、試樣可在真空狀態(tài)下試驗(yàn),確保測(cè)試環(huán)境及精度，真空度0.1MPa.
11、實(shí)驗(yàn)方式：a、試樣不同壓力下熱阻測(cè)試。b、材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試。c、接觸熱阻測(cè)試。
12、計(jì)算機(jī)全自動(dòng)測(cè)試，并實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。
DRL-II型導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（熱流法）
一、 概述
本儀器主要測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、硅膠、硅橡膠、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅膠、導(dǎo)熱樹(shù)脂、氧化鈹瓷、陶瓷基片、其他鋁基片、陶瓷基板、氧化鋁瓷等陶瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定。儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（絕緣片材、導(dǎo)熱樹(shù)脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng)）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法）；ASTM D5470-2006（薄的熱導(dǎo)性固體電絕緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）等。廣泛應(yīng)用在大中院校，科研單位，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料分析檢測(cè)。
1、試樣大?。?le;Φ30mm
2、試樣厚度：0.02-20mm
3、熱極控溫范圍：室溫-299.99℃ ,控溫精度0.01℃
4、冷極控溫范圍：0-99.00℃,控溫精度0.01℃
5、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：0.01～50W/m*k,1～300W/m*k
6、熱阻測(cè)試范圍：0.05～0.000005m2*K/W
7、測(cè)試精度：優(yōu)于3%
8、試樣可在真空狀態(tài)下試驗(yàn)，確保測(cè)試環(huán)境及精度，真空度0.1MPa.
9、實(shí)驗(yàn)方式：a.材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試。b、接觸熱阻測(cè)試。
10、計(jì)算機(jī)全自動(dòng)測(cè)試，并實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出
典型用戶
清華大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院
清華大學(xué)材料學(xué)院
國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)（湖南長(zhǎng)沙）
北京化工大學(xué)2臺(tái)
同濟(jì)大學(xué)
江西理工大學(xué)
電子科技大學(xué)
華東理工大學(xué)
華爍科技股份有限公司葛店分公司
河南生茂固態(tài)照明科技公司
深圳寶迅通電子公司
大連理工大學(xué)
哈爾濱工業(yè)大學(xué)
深圳森日有機(jī)硅公司
西安立民電子科技有限公司
肇慶皓明有機(jī)硅公司
宜賓*光電節(jié)能公司
南車電力機(jī)車（湖南株洲）
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