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金相顯微鏡跟掃描電鏡的區(qū)別
閱讀：2825 發(fā)布時(shí)間：2019-5-23
由于此類樣品一般表面是凹凸不平的，所以不適合用普通金相顯微鏡觀看，以前這部分樣品一般也是電鏡的工作，觀察一般5000x以下，LEXT拍攝此類樣品的照片感覺也都很不錯(cuò)的，*可以代替電鏡的工作。
三、非金屬材料
玻璃鋼
碳碳復(fù)合材料
纖維
MSP納米復(fù)合材料
天然石磨顆粒
釹鐵硼顆粒
陶瓷斷口1
陶瓷斷口2
說明：可以看出LEXT非常適合一些非金屬試樣。
一、其他應(yīng)用
1、 隱身材料的底表面積測量
LEXT除了可以測量面積外，還可以測量表面積。在隱身材料中，實(shí)現(xiàn)隱身的一種途徑就是在材料表面通過工藝處理實(shí)現(xiàn)很多小孔，小孔越多越深隱身效果越好。用LEXT可以測量出隱身材料的表面積，表面積越大說明小孔越多越深，從而可以定量的知道哪組工藝處理的隱身材料隱身效果更好。
2、 表面噴涂粗糙度測量
通過測量不同工藝處理過的材料表面粗糙度，進(jìn)而間接的評(píng)判各種噴涂工藝效果。
3、 發(fā)動(dòng)機(jī)葉片氣孔檢查
發(fā)動(dòng)機(jī)葉片含有氣孔，取其橫截面放入顯微鏡觀察，可以看到氣孔和表面的污物（污物是不能避免的），在普通光學(xué)顯微鏡下，氣孔和污物都是黑顏色的，無法分辨，由于氣孔是凹下的而污物是凸出的，所以LEXT可以很容易的進(jìn)行判斷，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)樣品孔隙率的計(jì)算。