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产品简介
该系列微量天平可以提供现有分析天平具有的Z高分辨率：高达*的50,000,000位。
详细介绍
梅特勒XP26微量天平
称量性能：该系列微量天平可以提供现有分析天平具有的zui高分辨率：高达*的50,000,000位。
天平操作：触摸显示屏提供*的用户友好的操作界面。多达8个个性化设置的用户操作界面可以被自由设定、保持和恢复。
SmartSens红外感应器：无需用手接触天平就可以开关防风门，将样品放置在秤盘上。称量操作更快速、更便捷。
规格参数
zui大称量范围 | 22 g |
可读性 | 1 μg |
线性 | 6 μg |
重复性 | 1.5 μg |
灵敏度（长时间稳定） | 1x10-6/a?Rnt |
灵敏度（温度漂移） | 1x10-6/°C?Rnt |
秤盘尺寸 | 40x40 mm |
稳定时间（典型） | 3.5s |
外部砝码校准 | 可选 |
内部砝码校准 | ProFact, 温度漂移和时间触发的全自动内校 |
尺寸 | 263x487x322 mm |
称量盘上方的有效高度 | 111 mm |
接口 | RS-232C, Bluetooth, Ethernet, PS2, LocalCAN |
Minimum weigh (typical acc. USP) | 2.1 mg |
Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2) | 0.14 mg |
Sensitivity offset | 4x10-6·Rnt |
Material Number(s) | 11106048 |