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多年以来，HORIBA销售的EDXRF分析仪和XGT-WR系列为客户提供RoHS，ELV和无卤检测，对含有害元素如Pb，Cd，Hg，Br，Cr，Cl，As，Sb等的样品进行筛选式测量，如今在世界范围内广泛使用。
基于大量客户的要求，HORIBA凭借长期的经验开发出全新的EDXRF分析装置MESA-50 。它将为您提供友好的操作界面和优异的使用性能。
MESA-50具有三种尺寸的准直器可用于各种
产品简介
详细介绍
特征
1．Speedy 快速
硅漂移检测器大幅度减少了测量时间，在高通量的同时提供了更高的灵敏度
2．Small 小巧
便携式，体积小，重量轻
尺寸294（长）* 208（宽）*205（高），重量12千克
内置电池可持续测量6小时
无需担心X射线泄漏
3．Simple 简单
减少日常维护工作（无需液氮）
无需真空泵
各种材料测量直观简单
4．Smart 智能
中英文操作软件
Excel数据管理工具
规格
基本规格 | 原理 | 能量色散型X射线荧光光谱 |
应用领域 | RoHS, ELV，无卤 | |
测量元素 | 13Al-92U | |
样品类型 | 固体，液体，粉末 | |
X射线发生装置 | X射线管 | 50kV（zui高），0.2mA |
X射线照射直径 | 1.2mm，3mm，7mm（自动切换） | |
X射线一次滤光片 | 4种（自动切换） | |
检测器 | 类型 | SDD（硅漂移检测器） |
信号处理器 | 数字脉冲处理器 | |
样品室 | 环境 | 大气 |
样品观察 | CCD镜头 | |
设备 | 操作系统 | 电脑（Windows 7） |
供电 | AC适配器（100-240V,50/60Hz） | |
电池 |