美国CID CI-120植物冠层分析仪
CI-110和CI-120植物冠层分析仪快速的、精确的、非破坏性的评估叶面积指数（LAI）；
CI-110和CI-120同步测量多种参数，提供实时的冠层图像，以及即时的光合有效辐射（PAR）和 叶面积指数（LAI）数据。只需要简单的将探头放置到冠层下或冠层里面，就可以得到实时的、高分辨率的半球图像。快速容易的捕获图像，然后分析全功能的PAR和LAI数据。分析结果保存在掌上电脑或笔记本电脑中。集成的CCD图像获取设备和一个24PAR阵列传感器，CI-110和CI-120对于测量作物和森林中的植物冠层非常理想。

提供数据和计算

※     叶面积指数（LAI）

※     叶面平均坡度角度

※     叶面分布/冠层开阔：冠层以下可视天空部分（LD /CO）

※     光合有效辐射（PAR）

※     散射PAR透射

※     光斑

※     光合作用光量子通量密度（PQFD）

如何工作：CI-110和CI-120通过一个图像捕获CCD镜头，以及一个集成的阵列杆式传感器，USB通讯接口以及软件，同步测量PAR和图像数据。通过用户自定义的方位角和天顶角软件计算太阳光柱的透射系数。林隙比转换程序（诺曼和坎贝尔，1989）用于计算评估冠层的叶面积指数，散射辐射透射系数，平均叶面坡度角度，以及植物冠层的消光系数。输出可以显示在计算机屏幕上，也可以保存为一个文件。

CI-110/CI-120计算机和软件：全新的和改善的CI-110植物冠层成像仪和一个紧凑的的掌上电脑一起运输，以及一个强大的软件，设计和优化为触摸屏。新软件是快速的、强大的、容易使用的，其特点为：

※     嵌入式控制器和网络服务器

※     植入的802.11b/g，HSPSA，WiMAX，蓝牙2.0 + EDR

※     GPS Sirs Star3

※     优化为触摸屏

※     数字打格遮盖（无需塑料器具）

※     GPS标示位置信息

※     图像可以保存为多种格式（.png，.tiff，.jpeg等）

※     在Google Maps/Earth上输入数据

※     输出至KML

※     创建一个广泛的工程数据文件

北京东方安诺生化科技有限公司
地址：北京大郊亭中街华腾3座11A
： www.annovatech.com、http://www.mtfinger.com/st191187
、
：、
/87952137/87951917/87951529/87951792/87951567

：100124