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A-5003-4788雷尼紹加長(zhǎng)桿測(cè)針技術(shù)參數(shù)
A-5003-4788雷尼紹加長(zhǎng)桿測(cè)針技術(shù)參數(shù)TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元【詳細(xì)】
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A-50034785雷尼紹三坐標(biāo)測(cè)針*
A-50034785雷尼紹三坐標(biāo)測(cè)針*TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保【詳細(xì)】
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A-5003-4241雷尼紹三坐標(biāo)測(cè)針工作原理
A-5003-4241雷尼紹三坐標(biāo)測(cè)針工作原理TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元【詳細(xì)】
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A5003-0045雷尼紹RENISHAW三坐標(biāo)測(cè)針
A5003-0045雷尼紹RENISHAW三坐標(biāo)測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元【詳細(xì)】
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A5003-0042*英國(guó)雷尼紹測(cè)針
A5003-0042*英國(guó)雷尼紹測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了【詳細(xì)】
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A-5003-0044雷尼紹RENISHAW技術(shù)參數(shù)
A-5003-0044雷尼紹RENISHAW技術(shù)參數(shù)TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細(xì)】
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A-5003-0041*英國(guó)雷尼紹測(cè)針
A-5003-0041*英國(guó)雷尼紹測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保【詳細(xì)】
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A-5003-0039*雷尼紹三坐標(biāo)測(cè)針
A-5003-0039*雷尼紹三坐標(biāo)測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細(xì)】
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A-50030043雷尼紹測(cè)針現(xiàn)貨
A-50030043雷尼紹測(cè)針現(xiàn)貨TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了【詳細(xì)】
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A-5003-0038*雷尼紹測(cè)針
A-5003-0038*雷尼紹測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在【詳細(xì)】
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A-5003-0036英國(guó)雷尼紹renishaw測(cè)針
A-5003-0036英國(guó)雷尼紹renishaw測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細(xì)】
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A-5003-0035雷尼紹RENISHAW測(cè)針
A-5003-0035雷尼紹RENISHAW測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細(xì)】
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A-5000-8663雷尼紹測(cè)針工作原理
A-5000-8663雷尼紹測(cè)針工作原理TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細(xì)】
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A-5003-0033*英國(guó)雷尼紹測(cè)針
A-5003-0033*英國(guó)雷尼紹測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保【詳細(xì)】
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A-5000-7808雷尼紹測(cè)針技術(shù)參數(shù)
A-5000-7808雷尼紹測(cè)針技術(shù)參數(shù)TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細(xì)】
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A-5000-7801雷尼紹renishaw測(cè)針
A-5000-7801雷尼紹renishaw測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細(xì)】
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A-5000-7805*雷尼紹加長(zhǎng)桿測(cè)針
A-5000-7805*雷尼紹加長(zhǎng)桿測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細(xì)】
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A-5000-7800*英國(guó)雷尼紹三坐標(biāo)測(cè)針
A-5000-7800*英國(guó)雷尼紹三坐標(biāo)測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細(xì)】
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A-5000-7803*英國(guó)雷尼紹三坐標(biāo)測(cè)針
A-5000-7803*英國(guó)雷尼紹三坐標(biāo)測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細(xì)】
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A-5000-7807雷尼紹測(cè)針三坐標(biāo)測(cè)針
A-5000-7807雷尼紹測(cè)針三坐標(biāo)測(cè)針TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，【詳細(xì)】
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