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電氣設(shè)備絕緣介質(zhì)損耗測(cè)量方法
閱讀：1289 發(fā)布時(shí)間：2020-11-21
電氣設(shè)備絕緣介質(zhì)損耗測(cè)量方法
在介損測(cè)量技術(shù)中,自動(dòng)平衡電橋發(fā)展zhui快,是較有前途的介損測(cè)試儀,但系統(tǒng)構(gòu)成比較復(fù)雜,小型方便程度不夠,成本較高。單片機(jī)的問世和迅猛發(fā)展,介質(zhì)損耗測(cè)試儀使得介損測(cè)量技術(shù)又有了新的發(fā)展。由于介損的測(cè)量屬于高電壓、微電流、小角度的精密測(cè)量,測(cè)量系統(tǒng)需具有很高的靈敏度和準(zhǔn)確度,抗干擾能力要強(qiáng),因此選擇測(cè)量方法更為重要。本文將對(duì)此展開研究和討論。
1相位差測(cè)量法若已知試品上的電流和電壓夾角,就容易求出介損角δ（δ=90-φ）和tanδ值。因此tanδ的測(cè)量問題可以轉(zhuǎn)化為電流和電壓之間相位差的測(cè)量問題。電流和電壓可用下式表示:E1=E0 1 sin（ωt+φ0 1）,E2=E0 2 sin（ωt+φ0 2）相位差:φ=φ0 1-φ0 2如圖1所示φ0 1=ωt0 1φ0 2=ωt0 2所以φ=ω（t0 1-t0 2）（1）式中t0 1,t0 2為兩個(gè)同頻率振蕩信號(hào)的初相所對(duì)應(yīng)的初始時(shí)間。介損的相位差測(cè)量方法是利用比較器的“過零比較”原理[3],把相位差轉(zhuǎn)換成時(shí)間間隔。