应力双折射 参考价：面议
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要应力双折射测量系统。该系统是建立在Hinds l...
应力双折射测量系统 参考价：面议
Hinds 仪器的应力双折射测量系统Exico-150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。 该系统具有足够的多样性，在生产车间和研发...
应力双折射检测 参考价：面议
在硅太阳能电池板的生产过程中，硅晶体中的应力在制作过程中往往没有被检测到，我们描述了一种测量硅锭的应力双折射检测，它可以是方形的，也可以是生长的，然后被锯成硅片...
光学玻璃应力测量 参考价：面议
光学玻璃应力测量占地小-大限度地减少设备所需的工厂空间；平台设计-使可测量面积尽可能大；强大的自动化-质量阶段和硬件正常运行时间。
美国Hinds Instruments 参考价：面议
美国Hinds Instruments 的Exicor®双折射测量技术于1999年推出，型号为150AT，为客户提供技术，具生产价值的测量双折射的能力...
穆勒矩阵测量系统 参考价：面议
穆勒矩阵测量系统中采用四个光弹性调制器(PEM)，150XT Mueller偏振计可以在短时间内同时测量所有十六个穆勒r矩阵元素和样品的完整偏振特性。 Hind...
残余应力检测 参考价：面议
150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品，用于残余应力检测。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量，也可...
残余应力测量 参考价：面议
该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。...
Hinds 参考价：面议
美国Hidns Instruemtns -LCD材料的超低阶双折射测量在与众多的光学材料制造商合作多年后，Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系...
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