冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在Z短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT、等物理性变化的测试之用
试验系统结构设计适用GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 15

~4、产品基本参数
4.1容积、尺寸和重量
4.1.1标称内容积 150L
4.1.2工作室尺寸 500×500×600mm (深×宽×高)
4.1.3 提篮尺寸 300×300×400mm (深×宽×高)
4.1.4外型尺寸 1570×1890×2030mm(深×宽×高)
（此为近似尺寸具体以实物为准，吊篮气缸装在右侧)
4.1.5结  构 两箱法冲击（高温室、低温室），工作室上下结构
4.1.6测试温度范围 -40℃～+180℃

4.1.7重  量 约600 kg
4.2性能
4.2.1测试环境条件 环境温度+25℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下。
4.2.2测试方法 GB/T 5170.2-1996  《电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法》
4.2.3测试方式 待测物*静止测试方式。此方法是当前电子部品测试用、研究用、以及半导体大量筛选用之*。
4.3高温室
4.3.1预热温度范围 常温～+180至200℃
4.3.2升温时间 常温～+180℃ 约30分钟
4.4低温室
4.4.1预冷温度范围 常温～-70
4.4.2降温时间 常温～--55℃ 约30分钟
4.5测试性能
4.5.1温度冲击范围 -55℃～+150℃

4.5.2温度均匀度 ≤2℃
4.5.3温度波动度 ≤±1℃
4.5.4恢复时间 ≤5min
4.5.5切换时间 ≤5s
4.5.6温度校准点为 +23 °C and +80 °C
4.5.7满足试验标准 温度变化
IEC 68-2-14（1984）《基本环境试验规程 第二部分：试验N：温度变化》
 低温室
IEC 60068-2-1, test A          
GB/T2423.1-2001  电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A 低温
 高温室
IEC 60068-2-2, test B       
GB/T2423.2-2001  电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B 高温
4.5.8其它标准 GJB360.7-87  温度冲击试验
GJB150.5-86  温度冲击试验
GB/T2423.22 《电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法》
4.5.9负载 负载：30kg。
5、结构特征
5.1结构材质 外壁材料：冷轧钢板静电喷塑
内壁材料：SUS304#不锈钢板
箱体保温材料：硬质聚氨酯泡沫+进口超细玻璃纤维
门保温材料：进口超细玻璃纤维、硅橡胶、密封条。
二箱吊篮式结构，上部为高温箱，下部为低温箱,冲击方式采用高温箱,低温箱静止, 试料部件通过上下移动之吊拦快速移动到高、低温箱内,从而实现冷热冲击测试目的。
5.2空气调节 宽带式强迫气流循环使得测试室与其他蓄温室快速达到温度平衡，更缩短转换时间。
5.3空气调节系统 离心风机、加热器、蒸发器、温度传感器、循环风道、风机、叶轮等。
5.4标准配置 脚  轮：4个
电源线：6米
RS232通讯接口
5.5设备大门 上、下二个区分别设有一扇门，采用双层耐高低温不锈钢板及硅橡胶二层密封以确保测试区之密闭。门框装有防凝露电热装置。
5.6控制面板 控制器显示屏、照明开关、电源开关。
5.7机械室 制冷机组、接水盘、风冷冷凝器、干燥器、加热器、板换、储液罐、油分离器等。
5.8配电控制柜 配电板、电子元器件、排风扇等 。