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分享納米激光粒度儀的技術優(yōu)勢
納米激光粒度儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（DynamicLightScattering,DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍0.3nm–10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（Gaussian）單峰算法和Nicomp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢。
技術優(yōu)勢
1.PMT&APD雙檢測器自由選配；
2.可搭配不同功率光源；
3.精度高，接近樣品真實值；
4.快速檢測，可以追溯歷史數據；
5.結果數據以多種形式和格式呈現；
6.符合USP,CP等個多藥典要求；
7.無需校準；
8.復合型算法：
高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換
9.模塊化設計便于維護和升級；
可自動稀釋模塊（選配）；
自動進樣系統(tǒng)（選配）；
搭配多角度檢測器（選配）；