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FLIR ETS320 紅外熱像儀
紅外熱像領(lǐng)域的供應(yīng)商菲力爾推出的FLIR ETS32 紅外熱成像儀正好解決了這個(gè)難題，作為FLIR推出的專門針對在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下進(jìn)行電子元件和印刷電路板（PCB）熱特性測試與分析而設(shè)計(jì)的紅外熱像儀，F(xiàn)LIR ETS32 可以提高電子產(chǎn)品行業(yè)的測試和診斷精度，幫助工程師和測試技術(shù)員在數(shù)秒鐘內(nèi)收集、可靠的熱數(shù)據(jù)并執(zhí)行分析，輕松檢測出哪些部件受損。
那么這套針對電子實(shí)驗(yàn)室所研發(fā)的紅外熱像儀究竟具備哪些特性，竟然可以使用在處在金字塔頂端的科研領(lǐng)域？
以往，實(shí)驗(yàn)室測溫一般采用熱電偶和點(diǎn)溫計(jì)兩種方法，但是在實(shí)踐應(yīng)用中，檢測人員需要直接接觸需要被檢測的電子器件或者印刷電路板，不但操作繁瑣，而且也給實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的性帶來了局限。而FLIR ETS320™紅外熱像儀則*避免了這些缺點(diǎn)，不僅檢測時(shí)間短，而且測量精度誤差小，在操作方面也靈活性，為測試人員提供方便的同時(shí)，也促進(jìn)了產(chǎn)品的設(shè)計(jì)。
省去估算環(huán)節(jié)，快速的檢測
FLIR ETS320™具有非接觸式溫度測量和即時(shí)熱點(diǎn)檢測等優(yōu)點(diǎn)，可摒除熱測試中的猜測成分，檢測到細(xì)微溫度變化（< 0.06°C）和量程高達(dá)250°C的熱生成；無需像使用熱電偶和RTD（電阻式溫度檢測器）測量那樣進(jìn)行熱點(diǎn)位置估算，可以快速發(fā)現(xiàn)熱點(diǎn)和潛在故障點(diǎn)，節(jié)省大量時(shí)間。
76，800點(diǎn)溫度測量，讓設(shè)計(jì)缺陷無所遁形
借助其搭載的320*240像素的紅外傳感器，F(xiàn)LIR ETS320™可以提供 76，800點(diǎn)的溫度測量，同時(shí)具有真45°視場角，可進(jìn)行范圍較廣的初次掃描， 檢測人員可以輕松鎖定熱點(diǎn)，識(shí)別潛在的故障點(diǎn)，無需擔(dān)心藏于暗處的散熱器。 溫度測量精度更是高達(dá)±3°C，可測量小至170 μm/像素點(diǎn)尺寸的部件，可以確保產(chǎn)品達(dá)到質(zhì)量保證和工廠驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。
小平臺(tái)設(shè)計(jì)，解放了人的雙手
FLIR ETS320™采用恒定的非接觸式熱測試方法，將高靈敏度熱像儀與可調(diào)節(jié)的免手持式實(shí)驗(yàn)臺(tái)架相結(jié)合，使測試目標(biāo)穩(wěn)定地固定在檢測儀表下，提供固定、恒定的焦距、不會(huì)搖晃和振動(dòng)，解放了人的雙手。在檢測時(shí)，可以通過拉近鏡頭對較小的部件進(jìn)行成像，或者拉遠(yuǎn)鏡頭將整個(gè)電路板納入視野，適應(yīng)了電子元件越來越快，越來越小的檢測新要求。
借助一體式測試臺(tái)和滑動(dòng)架，該熱像儀系統(tǒng)達(dá)到了*的靈活性，能夠?qū)Ω鞣N印刷電路板或電子設(shè)備進(jìn)行成像。
連接電腦，分析不是事
FLIR ETS320™自帶強(qiáng)大的FLIR Tools+軟件系統(tǒng)，可以存儲(chǔ)1500張照片，具有SD卡存儲(chǔ)和USB下載功能。如果需要執(zhí)行分析，例如，繪制時(shí)間對應(yīng)溫度的曲線，可以通過USB口將熱像儀連接至安裝有FLIR Tools+軟件的PC或電腦，它可以自動(dòng)連接并生成實(shí)時(shí)圖像，用于分析和數(shù)據(jù)傳輸。
無論是科學(xué)研究或工業(yè)產(chǎn)品測試，熱數(shù)據(jù)都是是衡量系統(tǒng)運(yùn)行的一個(gè)重要指標(biāo)。隨著電子產(chǎn)品變得越來越小、功能越來越強(qiáng)大，觀察和了解這些系統(tǒng)的熱性能勢在必行。而FLIR ETS320™熱像儀具有較高的測量精度，能將細(xì)微的溫差以可視化的方式呈現(xiàn)，有助于熱性能評價(jià)、確保環(huán)境兼容性以及對多種電子產(chǎn)品執(zhí)行故障診斷。