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bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统，配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。
bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200还配有业界先进的操作和分析软Vision64。新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能，可访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
优质的测量与分析功能
·易于使用的界面，可快速准确地获得结果
·自动化功能用于日常测量和分析
·广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析
·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告
先进计量设备
·基于超过四十年的专有WLI创新，ContourX-200光学轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声、高速、高精度的准确结果。
·通过使用多个镜头和集成的特征识别功能，设备可以在各种视野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征，可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。
高性能表面计量
·放大倍率无关的业界好Z轴分辨率
·大尺寸的标准视场
·稳定集成防震设计
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