bruker原子力显微镜，即afm（Atomic Force Microscope）是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器?？梢栽诖笃鸵禾寤肪诚露愿髦植牧虾脱方心擅浊虻奈锢硇灾拾ㄐ蚊步刑讲?，或者直接进行纳米操纵。
提供商 |
上海尔迪仪器科技有限公司 | 下载次数 |
15次 |
资料大小 |
117.6KB | 资料类型 |
WORD 文档 |
资料图片 |
-- | 浏览次数 |
512次 |
5
立即询价
您提交后，专属客服将第一时间为您服务