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詳細摘要： 3380-P VLSI測試系統主要特色：?85 MHz 測試頻率?512 logic I/O pins （ Z高可至 576 pins）?平行測試可達 512 ...

詳細摘要： 3380-D VLSI測試系統主要特色：?100 MHz 測試頻率?256 logic I/O pins （ Z高可至 576 pins）?平行測試可達 256...

詳細摘要： 3380 VLSI測試系統主要特色：?50/100 MHz 測試頻率?50/100 Mbps data rate?1024 I/O pins （Z高可至1280...

詳細摘要： 3360-P VLSI測試系統主要特色：?25/50 MHz 測試頻率?25/50 Mbps data rate?256 logic I/O pins?8M （...

詳細摘要： 3360-D VLSI測試系統主要特色：?50 MHz 測試頻率?32/64 個 I/O 通道?8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體?彈性...

詳細摘要： 3360 VLSI測試系統主要特色：?50 MHz 測試頻率?608 個 I/O 通道?8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體?彈性化硬體結...