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一、儀器介紹

  電子散斑干涉（ESPI）實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)主要面向大專院校教學(xué)使用。用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋測(cè)定其離面位移。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測(cè)量、無(wú)損測(cè)量、振動(dòng)測(cè)量等。

二、儀器特點(diǎn)
  結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、非接觸、靈敏性好、處理信息快、不必暗房操作、實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息。

三、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)

四、實(shí)驗(yàn)配置

    基本配置

    激光器；加熱用電源；CCD攝像機(jī)；圖像采集卡；擴(kuò)束鏡；分束器；二維平移底座；待測(cè)物體；通用底座；干板架；白屏；反射鏡等；

可選配置     計(jì)算機(jī)；顯示器；打印機(jī)