E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。
它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。
与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。

E4991A 射频阻抗/材料分析描述

：E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。

它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。

与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。

基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz 到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。

 材料评估 E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。

 晶圆测量 借助E4991A-010 探针台连接套件，您可轻松地地将 Agilent E4991A 连接到射频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。

 温度特性评估 温度特性测试套件 E4991A-007 是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。 基本精度 ? 基本精度 +/-0.8% 扫描参数 ? 频率：1 MHz 至 3 GHz ? 振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms ? DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA 更多特性 ? Windows 风格的用户界面 ? 内置 VBA 编程功能 ? 通过 LAN 接口进行数据传输 多功能测量选件 ? 介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002） ? 可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010） ? 温度特性测量（选件 E4991A-007）