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納米粒度儀SZ-100V2，能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量，一臺設(shè)備、三種功能，可對每個測量參數(shù)進行高靈敏度、高精度的分析。

納米技術(shù)是一門交叉性很強的綜合學(xué)科，研究的內(nèi)容涉及現(xiàn)代科技的廣闊領(lǐng)域。納米科學(xué)與技術(shù)涵蓋納米化學(xué)、納米材料學(xué)、納米生物學(xué)、納米電子學(xué)、納米加工學(xué)、納米力學(xué)等 。這七個相對獨立又相互滲透的學(xué)科和納米材料、納米器件、納米尺度的檢測與表征這三個研究領(lǐng)域。納米材料的制備和研究是整個納米科技的基礎(chǔ)。

粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 µm

納米粒度儀SZ-100V2采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品?？墒褂檬惺鄣臉悠烦兀部蓪崿F(xiàn)對小體積樣品的測量。

Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV

納米粒度儀SZ-100V2，使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預(yù)測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

納米粒度儀SZ-100V2，通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的絕對分子量 (Mw) 和第二維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力，可快速確定納米顆粒的特性！

• SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。

• 使用單臺設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量

• Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。

• Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。