X射线镀层测厚仪XRF-2020功能

功能及用途：

XRF-2020H系统设计用于测量单镀层或多镀层元件及合金镀层的厚度或检测分析样品中的元素：

并使用x射线荧光（XRF）确定其厚度。镀层厚度的测量方法可分为标准曲线法和FP法（理论演算方法）底材的荧光X射线2种。标准曲线法是测量已知厚度或组成的标准样品：

根据荧光X射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。

测试样品的高度根据不同型号10公分以内。

XRF-2020膜厚仪型号规格

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

Micropioneer XRF-2020/XRF-2000

原产地：韩国

型号：XRF-2020系列XRF-2000系列

功能及应用:快速无损测量电镀层厚度

可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层

测量镀金 镀银 镀镍 镀锡 镀铜 镀铬 镀锌镍合金等！

测量范围0.02-35um