X射线荧光镀层测厚仪无损膜厚仪

韩国MicroP XRF-2020

X射线荧光镀层测厚仪无损膜厚仪

仪器规格

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

Microp XRF-2020测厚仪(韩国微先锋）

快速无损测量镀金，镀银，镀锡，镀银，镀镍，镀铜，镀锌镍合金等！

测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

测量精度

首层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±15%以内

测试范围  

镀金：0.03-6um

镀钯：0.03-6um

镀镍：0.5-30um

镀锡：0.3-50um

镀银：0.1-50um

镀铬：0.5-30um

镀锌：0.5-30um

镀锌镍合金：0.5-30um

韩国微先锋MicroP XRF-2020镀层测厚仪