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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)的應(yīng)用
熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)（thermally stimulated depolarization currents, 簡(jiǎn)寫(xiě)為TSDC或TSC）是電介質(zhì)材料在受熱過(guò)程中建立化態(tài)或解除化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流。試樣的去化電流隨溫度的變化關(guān)系，即為TSDC譜。通過(guò)研究TSDC譜可以了解電介質(zhì)材料中偶子和可動(dòng)離子的性質(zhì)、激活能（或陷阱深度）、以及弛豫時(shí)間（壽命）等。
TSDC及相關(guān)技術(shù)被廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等，通過(guò) TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。
特征：
溫度范圍寬：- 160 ~ 400 ℃
升降溫速率快：(0.01 ~ 30)℃/min
多種獨(dú)立變量：溫度、化電壓、化時(shí)間、升降溫速率等
多種測(cè)量模式：
熱激勵(lì)去化、熱激勵(lì)化、等溫化時(shí)域、
等溫電導(dǎo)率時(shí)域、等溫弛豫譜、熱窗弛豫譜
多種測(cè)量參數(shù)：樣品電流、電流密度、電荷變化、介電常數(shù)變化等
全自動(dòng)數(shù)據(jù)采集功能
在線測(cè)量軟件WinTSC，可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)測(cè)量過(guò)程，記錄和存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。可將數(shù)據(jù)導(dǎo)出為ASCII格式，并能隨時(shí)調(diào)取，還可以通過(guò)WinTSC軟件將測(cè)得數(shù)據(jù)在線顯示為2D/3D曲線。