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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
剩余電流斷路器測(cè)試儀的分閘時(shí)間要怎么選擇？
剩余電流斷路器測(cè)試儀是專為剩余電流斷路器的測(cè)試而研制，它是檢測(cè)B型剩余電流斷路器脫扣電流和分?jǐn)鄷r(shí)間的關(guān)鍵儀器。適用于電子式和電磁式的剩余電流斷路器。1P＋N、2P、3P、3P＋N、4P的斷路器均能測(cè)試，輸出大剩余電流為2A。
剩余電流斷路器測(cè)試儀采用觸摸屏，斷路器動(dòng)作后，脫扣電流和分?jǐn)鄷r(shí)間均能保持，便于讀數(shù)和記錄。系統(tǒng)顯示和操作采用流行的工業(yè)級(jí)觸摸屏，操作簡單。對(duì)剩余電流斷路器進(jìn)行特性測(cè)試之前，要正常接線，檢查剩余電流斷路器是否有相線與相線之間的短路以及相線與零線之間的短路現(xiàn)象。
用該測(cè)試儀對(duì)有相間短路現(xiàn)象的漏電斷路器進(jìn)行測(cè)試時(shí)，會(huì)對(duì)儀器造成嚴(yán)重的損壞。用該測(cè)試儀接線時(shí)，一定需要注意上下樁頭接線需要一一對(duì)應(yīng)，不能交叉連接，否則會(huì)引起故障或儀器損壞。
合閘彈跳時(shí)間是斷路器在合閘時(shí)，觸頭剛接觸開始計(jì)起，隨后產(chǎn)生分離，可能又接觸又分離，到其穩(wěn)定接觸之間的時(shí)間?！『祥l的不同期性太大容易引起合閘的彈跳，因?yàn)闄C(jī)構(gòu)輸出的運(yùn)動(dòng)沖量僅由首合閘相觸頭承受。分閘的不同期性太大可能使后開相管子燃弧時(shí)間加長，降低開斷能力。
合閘與分閘的不同期性一般是同時(shí)存在的，所以調(diào)好了合閘的不同期性，分閘的不同期性也就有了保證。產(chǎn)品中要求合分閘不同期性小于2ms。分、合閘時(shí)間是指從操動(dòng)線圈的端子得電時(shí)刻計(jì)起，至三極觸頭全部合上或分離止的一段時(shí)間間隔。
當(dāng)斷路器用在發(fā)電系統(tǒng)并在電源近端短路時(shí)，故障電流衰減較慢，若分閘時(shí)間很短，這時(shí)斷路器分?jǐn)嗟墓收想娏骶涂赡芎休^大的直流分量，開斷條件更為惡劣，這對(duì)斷路器的開斷是很不利的。所以用于發(fā)電系統(tǒng)的真空斷路器，其分閘時(shí)間盡可能設(shè)計(jì)長些為宜。