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14產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀的特點(diǎn)
特點(diǎn)：
該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過(guò)壓、過(guò)流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)。
設(shè)備參數(shù)：
1、試驗(yàn)電壓：至大5000V (AC\DC)：注：電氣薄膜弱點(diǎn)按每個(gè)um/V,來(lái)計(jì)算，在選型時(shí)設(shè)備至大電壓不會(huì)超過(guò)400v/um。本試驗(yàn)儀器超過(guò)使用量程。（我們的用戶主要有日新電機(jī)、廣州佛塑、中興材料等）
2、電壓測(cè)量精度：±1%
3、保護(hù)電流：0～40mA
4、輸入電壓：220V
5、有效測(cè)量范圍：0～5kV（AC\DC）
6、膜移動(dòng)速度：
7、3-10m/min 連續(xù)可調(diào)
8、樣品寬度： 60～650mm(可調(diào))
9、功率：1KW
華測(cè)儀器HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制，進(jìn)而達(dá)到人機(jī)對(duì)話的方式，是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜 第2部分：試驗(yàn)方法及其第1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。
華測(cè)其它相關(guān)產(chǎn)品：
可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品
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