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14產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線(xiàn)擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
綜合熱分析儀的檢測(cè)原理和設(shè)備特點(diǎn)
綜合熱分析儀主要是測(cè)量熱物性值中熱滲透率的一種設(shè)備，可以進(jìn)行微小領(lǐng)域（微米等級(jí)）、納米薄膜、Sic（單晶體、多晶體）、AIN等的測(cè)量。熱分析儀檢測(cè)設(shè)備利用激光對(duì)樣品進(jìn)行調(diào)制循環(huán)加熱、通過(guò)紅外線(xiàn)放射量的變化，將樣品內(nèi)部異常部分的檢測(cè)或不均勻性的熱特性可視化。內(nèi)載紅外宏觀(guān)光學(xué)系照相機(jī)，可高倍率觀(guān)察。并且，使用樣品加熱器的熱傳播檢查和簡(jiǎn)易溫度測(cè)量都可以進(jìn)行。
綜合熱分析儀的原理：
消除稱(chēng)重量、樣品均勻性、升溫速率一致性、氣氛壓力與流量差異等因素影響，TG與DTA/DSC曲線(xiàn)對(duì)應(yīng)性佳。根據(jù)某一熱效應(yīng)是否對(duì)應(yīng)質(zhì)量變化，有助于判別該熱效應(yīng)所對(duì)應(yīng)的物化過(guò)程(如區(qū)分熔融峰、結(jié)晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等)。在反應(yīng)溫度處知道樣品的當(dāng)前實(shí)際質(zhì)量，有利于反應(yīng)熱焓的準(zhǔn)確計(jì)算。
產(chǎn)品不僅波長(zhǎng)連續(xù)自動(dòng)可調(diào)，而且精度大幅提高，從傳統(tǒng)元素分析儀的波長(zhǎng)誤差一般20nm(±5nm)提高到現(xiàn)在的3nm，因而可以使產(chǎn)品在擴(kuò)大應(yīng)用范圍的同時(shí)，提高分析檢測(cè)的準(zhǔn)確度。可檢測(cè)普碳鋼、低合金鋼、高合金鋼、生鑄鐵、球鐵、合金鑄鐵等多種材料中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多種元素。每個(gè)元素可儲(chǔ)存99條工作曲線(xiàn)，品牌電腦微機(jī)控制,全中文菜單式操作。可以滿(mǎn)足冶金、機(jī)械、化工等行業(yè)在爐前、成品、來(lái)料化驗(yàn)等方面對(duì)材料多元素分析的需要。
綜合熱分析儀檢測(cè)設(shè)備特點(diǎn)
1、熱分析儀熱物理性顯微鏡是測(cè)量熱物性值中熱滲透率的一種設(shè)備；
2、熱分析儀檢測(cè)設(shè)備可以通過(guò)點(diǎn)、線(xiàn)、面測(cè)量樣品的熱物性；
3、該設(shè)備可以測(cè)量以往難以測(cè)量的微米等級(jí)的熱物性值的分布；
4、非接觸方式且高分辨率的熱物性測(cè)量設(shè)備；
5、檢測(cè)光spot直徑3μm、高分辨率來(lái)測(cè)量微小領(lǐng)域的熱物性（點(diǎn)、線(xiàn)、面 測(cè)量）；
6、因?yàn)榭筛淖兩疃确秶鷣?lái)測(cè)量，所以從薄膜、多層膜到散裝材料都可測(cè)量；
7、 基板上的樣品也可測(cè)量；
8、 熱分析儀激光非接觸式測(cè)量；
9、可檢測(cè)薄膜下的裂紋、孔隙、脫落等問(wèn)題。