您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
會(huì)員.png)
14產(chǎn)品分類品牌分類
-
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
-
激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
紅外鏡面反射光譜的工作原理
隨著我國(guó)進(jìn)入WTO組織，各種產(chǎn)品包括工業(yè)產(chǎn)品、農(nóng)業(yè)產(chǎn)品等的相應(yīng)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)正在逐步建立和完善，現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù)和方法，對(duì)于產(chǎn)量的檢測(cè)工作，有著十分重要的任務(wù)和作用。紅外光譜分析技術(shù)是重要的現(xiàn)代分析手段之一，不僅可以適應(yīng)多數(shù)常規(guī)樣品的定性分析標(biāo)定量分析，而且多種特殊附件裝置如鏡面反射光譜漫反射光譜和ATR全反射光譜的廣泛使用，對(duì)于許多特殊類型樣品的分析，顯示出其*的*，為紅外光譜（FTIR）分析技術(shù)在分析測(cè)試領(lǐng)域的工作拓寬了廣泛的應(yīng)用前景。本文根據(jù)我們長(zhǎng)期在紅外分析測(cè)試中的工作經(jīng)驗(yàn)和體會(huì)，著重介紹紅外鏡面反射光譜法及在樣品分析測(cè)試中的應(yīng)用實(shí)例。
把紅外鏡面反射光譜附件裝置插入FTIR光譜儀的樣品架上，紅外光經(jīng)平面鏡M1反射品s表面，被樣品部分吸收后反射到平面鏡M2，再反射進(jìn)入光譜儀的檢測(cè)器。
用于鏡面反射的樣品須表面光滑平整，具有較強(qiáng)的反射光線的能力，而對(duì)于多數(shù)本身不具備反射的樣品，通?？梢酝坎荚阡X箔或硅片等具有強(qiáng)反射能力材料表面，就可以很方便地進(jìn)行分析測(cè)試及研究。
對(duì)于下面所敘的幾種本身就具有較強(qiáng)能力的特殊樣品，若用常規(guī)測(cè)試方法和其他特殊附件的測(cè)試方法均難以得到令人滿意的結(jié)果，而采用鏡面反射光譜技術(shù)來(lái)進(jìn)行分析測(cè)試，充分顯示出這種方法*的*。