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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線(xiàn)擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
熱釋電系數(shù)的測(cè)試
熱釋電系數(shù)可用靜態(tài)法、動(dòng)態(tài)法和積分電荷法測(cè)試，其中積分電荷法得到廣泛應(yīng)用。圖4.5-32為積分電荷法測(cè)試原理圖(GB/T3389.8-1986)。該方法通過(guò)測(cè)量在電容器上積累的熱釋電電荷，測(cè)定剩余極化隨溫度的變化。使用靜電計(jì)測(cè)得積分電容兩端電壓，輸出至函數(shù)記錄儀Y端，由于積分電容值遠(yuǎn)大于試樣電容值，其兩端的電壓變化正比于試樣剩余極化的變化。同時(shí)，用X端記錄試樣溫度變化，可得到熱釋電電荷Q隨溫度T變化的曲線(xiàn)，微分該曲線(xiàn)，就可得到熱釋電系數(shù)
測(cè)試設(shè)備的加熱油槽由銅制成，外殼接地以屏蔽外來(lái)信號(hào)的干擾，內(nèi)盛絕緣油，絕緣油應(yīng)該浸沒(méi)試樣架和測(cè)溫?zé)犭娕?，外加保溫材料。熱電偶的工作溫度范圍為室溫?5℃，溫差電動(dòng)勢(shì)大者為宜。積分電容視試樣電容大小及熱釋電系數(shù)大小而定，一般為10μF。直流電阻不小于109Ω。靜電計(jì)輸入阻抗不小于1010Ω。函數(shù)記錄儀的相對(duì)誤差小于或等于1%。整個(gè)系統(tǒng)放電時(shí)間常數(shù)不小于4×103s，相對(duì)于采用10μF積分電容而言系統(tǒng)總電阻大于5×108Ω。試樣要求全電極極化試樣，電阻R不小于109Ω，其尺寸為：面積1cm2，厚度t不小于0.5mm。
測(cè)量時(shí)按圖4.5-32接好線(xiàn)路，將經(jīng)清潔干燥處理的試樣置于樣品架上，浸沒(méi)于絕緣油中，試樣與熱電偶應(yīng)盡可能接近。對(duì)油槽加溫，使之按一定速率升溫，并進(jìn)行記錄。然后，從所得Q-T曲線(xiàn)，求取所需溫度點(diǎn)的曲線(xiàn)斜率，即為該溫度的熱釋電系數(shù)。
圖4.5-32積分電荷法熱釋電系數(shù)測(cè)試原理圖
1一冰點(diǎn)；2一測(cè)溫?zé)犭娕迹?一屏蔽溫度室；4一被測(cè)涂樣；5*緣保護(hù)層；6一積分電容；7一靜電計(jì)8一函數(shù)記錄儀；9一加熱器；10*緣油
熱釋電系數(shù)的計(jì)算可采用下式
式中，pm為熱釋電系數(shù)，C/(℃· m2)；C為積分電容值，F(xiàn)；A為試樣面積，m2；△T為溫度變化值，℃；△V為對(duì)應(yīng)于△T的積分電容兩端電壓變化值，V。