產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
影響抗電強(qiáng)度的因素
材料的抗電強(qiáng)度主要用材料的耐電強(qiáng)度來表示,其數(shù)值等于相應(yīng)的擊穿場(chǎng)強(qiáng)E穿。它除取決于材料的組成與結(jié)構(gòu)外,主要受外界環(huán)境對(duì)E穿的影響。
首先是溫度的影響,溫度對(duì)電擊穿影響不大,因?yàn)樵陔姄舸┻^程中,電子的運(yùn)動(dòng)速度、粒子的電離能力等均與溫度無關(guān),因此在電擊穿的范圍內(nèi)溫度的變化對(duì)E穿沒有什么影響。
溫度對(duì)熱擊穿影響較大,首先溫度升高使材料的漏導(dǎo)電流增大,這使材料的損耗增大,發(fā)熱量增加,促進(jìn)了熱擊穿的產(chǎn)生。此外,環(huán)境的溫度升高使元器件內(nèi)部的熱量不容易散發(fā),進(jìn)一步加大了熱擊穿的傾向。
溫度升高使材料的化學(xué)反應(yīng)加速,促使材料老化,從而加快了化學(xué)擊穿的進(jìn)程。
從前面對(duì)介質(zhì)損耗的討論可知,頻率對(duì)介質(zhì)的損耗有很大影響。而介質(zhì)損耗是熱擊穿產(chǎn)生的主要原因,因此頻率對(duì)熱擊穿有很大的影響。在一般情況下,如果其他條件不變,則E穿與頻率ω的平方根成反比,即
式中,A是決定于試樣形狀和大小、散熱條件及ε等因素的常數(shù)。
此外,器件的大小和形狀、散熱條件都對(duì)擊穿有很大的影響。例如,為了提高熱擊穿場(chǎng)強(qiáng),防止器件被擊穿,可以采取強(qiáng)制制冷等散熱措施,來增加器件的抗擊穿能力。