您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
會(huì)員.png)
14產(chǎn)品分類品牌分類
-
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
-
激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
何時(shí)采用非接觸式測(cè)量電壓？
何時(shí)采用非接觸式測(cè)量電壓？
傳統(tǒng)非接觸式靜電測(cè)試儀包括電極式、振動(dòng)電容式、場(chǎng)磨式等。其中，電極式靜電儀直接通過(guò)電路對(duì)單一感應(yīng)電極上的電荷信號(hào)進(jìn)行放大、AD采樣，由于電荷信號(hào)容易在電路中衰減，該靜電儀零點(diǎn)漂移大，需經(jīng)常調(diào)零，使用不便。振動(dòng)電容式、場(chǎng)磨式靜電儀通過(guò)振動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)調(diào)制感應(yīng)電極上的感應(yīng)電荷，測(cè)量帶電體附近的電場(chǎng)強(qiáng)度，反演帶電體的靜電電壓，避免了感應(yīng)電荷衰減。然而，這些靜電測(cè)試儀普遍將傳感器敏感芯片裸露在外，這些裸露可動(dòng)單元容易在粉塵等惡劣環(huán)境中損壞，也容易因自身摩擦或與外界碰撞產(chǎn)生電火花，造成隱患。靜電危害是科技和生產(chǎn)活動(dòng)中的一個(gè)重大隱患。不同物質(zhì)間接觸、分離后即可產(chǎn)生靜電，由于其產(chǎn)生簡(jiǎn)單、不易發(fā)覺(jué)，稍有不慎就可能釀成重大事故。據(jù)統(tǒng)計(jì)，美國(guó)電子行業(yè)部門每年因靜電危害造成損失高達(dá)100億美元，英國(guó)電子產(chǎn)品每年因靜電造成的損失為20億英鎊，日本電子元器件的不合格品中不少于45％的危害是因?yàn)殪o電放電(ESD)造成的。靜電放電可能點(diǎn)燃某些易燃物體而發(fā)生爆炸。例如，在石油石化領(lǐng)域，人體或設(shè)備攜帶靜電容易引燃油品揮發(fā)出的氣體，油品、粉體在儲(chǔ)運(yùn)過(guò)程中與周圍容器發(fā)生摩擦，也容易產(chǎn)生大量靜電。在工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域，氫氣、乙炔、瓦斯等易燃易爆氣體，煤粉、鋁粉、面粉等粉塵，都有可能因靜電火花引起爆炸。在電子工業(yè)領(lǐng)域，一般MOS電路和場(chǎng)效應(yīng)管擊穿電壓約為300V，然而在干燥季節(jié)人體靜電可達(dá)數(shù)萬(wàn)伏，極易損傷甚至損壞半導(dǎo)體器件，從而導(dǎo)致設(shè)備故障。