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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線(xiàn)擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
電壓擊穿直流試驗(yàn)的意義
當(dāng)應(yīng)用直流電壓試驗(yàn)時(shí)，除GB/T1408.1-2006第4章要求外，還應(yīng)考慮以下各點(diǎn):
1對(duì)某一種非均質(zhì)試樣，在交流電壓下是通過(guò)阻抗(主要是電容性的)決定在試樣內(nèi)的電壓應(yīng)力分布。隨著直流電壓的增加，電壓分布可能仍然主要由電容性決定，但部分與升壓速度有關(guān)。在施加恒定電壓后，電阻性的電壓分布呈現(xiàn)穩(wěn)定狀態(tài)。選擇直流或者交流電壓取決于擬采用的擊穿試驗(yàn)的目的，在某種程度上還取決于材料被應(yīng)用的場(chǎng)合
2在施加直流電壓時(shí)，產(chǎn)生下列電流：電容電流、電吸收電流、泄漏電流以及在某種情況下局部放電電流。此外，對(duì)含有不同層或不均勻的材料，在整個(gè)試樣上的電壓分布還受到因相反極性電荷而引起的界面極化影響。極性相反的電荷可積聚在界面的兩邊，并產(chǎn)生足夠大的局部電場(chǎng)，從而引起試樣局部放電或擊穿。
對(duì)于大多數(shù)材料，直流擊穿電壓高于工頻擊穿電壓的峰值，對(duì)于許多材料，特別是那些不均質(zhì)材料，直流擊穿電壓會(huì)比交流擊穿電壓高三倍或多。