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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線(xiàn)擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
對(duì)于電壓擊穿試驗(yàn)儀的選擇不得不了解的幾個(gè)問(wèn)題？
對(duì)于電壓擊穿試驗(yàn)儀的選擇不得不了解的幾個(gè)問(wèn)題？
做一個(gè)產(chǎn)品不難，難在做精一個(gè)產(chǎn)品，生產(chǎn)電試驗(yàn)儀的產(chǎn)品的廠(chǎng)家不在少數(shù)。各有千秋？PLC控制的，ARM控制的。手動(dòng)控制的等。對(duì)于電壓擊穿試驗(yàn)儀的選擇不得不了解的以下幾個(gè)問(wèn)題？
一、 電壓擊穿試驗(yàn)儀在電磁干擾下如何保證長(zhǎng)期穩(wěn)定的工作；目前的電子元器件在長(zhǎng)期的電磁干擾情況下，其必然受到影響。如何處理；
二、無(wú)論是PLC還是電路板控制，又將如何處理其輸入控制高壓的之間的保護(hù)；因電路板或PLC晶體管輸入都大約在24V以下工作。雖然說(shuō)有光耦等其保護(hù)，但其高壓反饋及高壓電磁干擾下，顯得及其力不從心；
三、如何又保證，高壓放電等情況下的通訊正常及其保護(hù)；
四、電網(wǎng)電源的雜波干擾及電網(wǎng)污染的情況下，電子控制系統(tǒng)的穩(wěn)定性可想而知；在一種控制系統(tǒng)在供電不穩(wěn)的情況下，又將如何工作
五、材料擊穿瞬間的放電過(guò)程，同時(shí)夾雜著干擾勢(shì)必影響采集電穿的過(guò)程，又將如何保證擊穿瞬間電壓的真值。
六、、無(wú)論是失壓、門(mén)等一系的保護(hù)下。在控制單元萬(wàn)一失效的情況下，又將如何保證。