產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測試儀 先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測試儀 高低溫冷熱臺(tái)測試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測試儀 電壓擊穿測定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測試系統(tǒng)
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影響介電擊穿強(qiáng)度的因素
閃絡(luò)-指高壓電器(如高壓絕緣子)在絕緣表面發(fā)生的放電現(xiàn)象,成為表面閃絡(luò),簡稱閃絡(luò)。
絕緣閃絡(luò):絕緣材料在電場作用下,尚未發(fā)生絕緣結(jié)構(gòu)的擊穿時(shí),在其表面或與電極接觸的空氣(離子化氣體)中發(fā)生的放電現(xiàn)象,成為絕緣閃絡(luò)。
1.電壓波形直流、工頻正弦及沖擊電壓下,擊穿機(jī)理不同,所測的擊穿場強(qiáng)也不同,工頻交流電壓下的擊穿場強(qiáng)比直流和沖擊電壓下的低得多
2.。電壓作用時(shí)間,無論電擊穿還是熱擊穿都需要時(shí)間,隨著加壓時(shí)間的增長,擊穿電壓明顯下降。
3、電場的均勻性及電壓的極性,電場不均勻往往測得的電壓比本征擊穿值低。
4、試樣的厚度與不均勻性試樣的厚度增加,電極邊緣電場就不均勻,試樣內(nèi)部的熱量不易散發(fā),試樣內(nèi)部的含有缺陷的幾率增大,這些都會(huì)使擊穿場強(qiáng)下降。
5.環(huán)境條件試樣周圍的環(huán)境條件,如溫度、濕度以及壓力等都會(huì)影響試樣的擊穿場強(qiáng);溫度升高,通常會(huì)使擊穿場強(qiáng)下降;濕度增大,會(huì)使擊穿場強(qiáng)下降;氣壓對(duì)擊穿場強(qiáng)的影響,主要是對(duì)氣體而言。氣壓高,擊穿場強(qiáng)升高:但接近真空時(shí),也會(huì)使擊穿場強(qiáng)升高。另外還有:時(shí)間、輻射、機(jī)械力、電極材料及極性效應(yīng)。