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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
穩(wěn)定耐電弧試驗(yàn)機(jī)的優(yōu)勢(shì)
穩(wěn)定耐電弧試驗(yàn)機(jī)的優(yōu)勢(shì)
儀器優(yōu)勢(shì):
采用PLC系統(tǒng)，光電隔離、穩(wěn)定；
-TVS高壓防護(hù)系統(tǒng)、瞬間抑制浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的沖擊
-多級(jí)循環(huán)電壓采集技術(shù)、保證試驗(yàn)測(cè)試精度；
● TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)：
目前材料耐電弧試驗(yàn)儀采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理。對(duì)于電弧放電過程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。這也就是國(guó)產(chǎn)儀器維護(hù)率過高的主要原因。而華測(cè)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，。
●多級(jí)循環(huán)采集技術(shù)：
華測(cè)開發(fā)的多級(jí)循環(huán)電壓采集方式，大大提高目前電弧試驗(yàn)普遍采用手動(dòng)及干擾狀態(tài)下電壓及電流采集方式。
●低通濾波監(jiān)測(cè)技術(shù):
材料耐電弧試驗(yàn)在10-40mA電流下進(jìn)行，電磁干擾不僅影響試驗(yàn)精度，同時(shí)也造成通訊中斷等一系列問題。
為好解決這一難題，華測(cè)將低通濾波技術(shù)在電弧試驗(yàn)儀器運(yùn)用。
●遠(yuǎn)程技術(shù)：
*將遠(yuǎn)程技術(shù)在電弧試驗(yàn)儀上應(yīng)用，試驗(yàn)人員可遠(yuǎn)距離控制，同時(shí)可通過互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行在線診斷、升壓、維護(hù)等一系列問題。