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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
電壓表內(nèi)阻的測(cè)量方法
電壓表內(nèi)阻的測(cè)量方法
測(cè)量電壓表電阻的理論是歐姆定律 R=U/I，只要知道電壓 U 和電流 I 即可求得電阻，在實(shí)際操作中，要用伏特表、安培表測(cè)量電壓、電流，根據(jù)被測(cè)電阻的大小，我們分別選擇安培表內(nèi)接、外接，以減小測(cè)量誤差（在此不做討論）。測(cè)電表的內(nèi)阻與測(cè)純電阻的阻值道理相同，對(duì)于電表的“身份”我們做一下轉(zhuǎn)換：認(rèn)為它是一個(gè)‘會(huì)說話的電阻'，會(huì)說自己的電壓值（伏特表），電流值（安培表）即測(cè)量自己本身分得的電壓和通過自身電流。我們須作的工作就是想辦法測(cè)量另一未知的物理量。
利用半偏法測(cè)量電壓表內(nèi)阻：
提供的器材還有：
A. 滑動(dòng)變阻器，zui大阻值 ；
B. 電阻箱，zui大阻值 ，阻值z(mì)ui小改變量為 ；
C. 電池組：電動(dòng)勢(shì)約6 V，內(nèi)阻可忽略不計(jì)；
D. 導(dǎo)線和開關(guān)。
實(shí)驗(yàn)方法和步驟是：
① 斷開開關(guān)S，按圖3連接好電路；
② 把滑動(dòng)變阻器的觸頭P滑到 端；
③ 將電阻箱的阻值調(diào)到零；
④ 閉合開關(guān)S；
⑤ 調(diào)節(jié)滑動(dòng)變阻器R的阻值，使電壓表指針達(dá)到滿偏；
⑥ 調(diào)節(jié)電阻箱 的阻值，使電壓表指針達(dá)到半偏，讀出此時(shí)電阻箱 的阻值，即為電壓表的內(nèi)電阻 的測(cè)量值。