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IOL間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)HK-IOL-16H 參考價(jià)：面議
測(cè)試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進(jìn)行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗(yàn)。間歇工作壽命試驗(yàn)利用芯片的反復(fù)開啟和關(guān)閉引起的反復(fù)高溫...
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng)華科智源-功率循環(huán)老化設(shè)備主要是針對(duì)IGBT/SIC的封裝可靠性行進(jìn)行實(shí)驗(yàn),通過控制實(shí)驗(yàn)條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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