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日本爱斯佩克TSD-101-W：冷热冲击试验设备
阅读：121 发布时间：2025-7-18
华高仪器于2025年07月18日发布了文章【日本爱斯佩克TSD-101-W：冷热冲击试验设备】。
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在电子、军工等领域，产品在不同温度环境下的性能稳定性至关重要，高低温冷热冲击试验箱是评估产品耐受温度急剧变化能力的重要设备。日本爱斯佩克ESPEC推出的TSD-101-W高低温冷热冲击试验箱，在保持试验效果的同时，在空间利用、操作便捷性等方面展现出特点，成为相关行业试验工作中的实用设备。
1. 设计与空间优势
TSD-101-W在设计上兼顾了内部空间与整体尺寸的平衡。其内部空间达到28英寸x16英寸x13.5英寸（710x410x345毫米），内部体积为3.5立方英尺（100升），能满足一定数量样品的试验需求。同时，系统严格控制整体尺寸，外部尺寸为44英寸x78英寸x75英寸（1100x1970x1890毫米），与传统设备相比，占地面积减少了40%，更适合空间有限的实验室或生产场地使用。
2. 智能控制与操作优化
该设备升级到最新的触摸屏控制器，配备7英寸屏幕并支持以太网接入，程序和数据的上传/下载可通过网络完成，操作更为便捷。其的样品温度触发（STT）功能，能主动监控产品温度，仅当产品达到所需温度时，程序才进入下一步，还可根据测试产品数量调整浸泡时间，动态减少整体测试时间。此外，冷却模式允许操作员在测试完成后快速安全地取出样本，提升了操作的安全性和效率。
3. 结构与细节设计
- 柔性电缆管道从侧面伸出（用于监控或为样品供电），不同于传统的顶部移动管道设计，更便于样品连接与管理。
- 可选配窗口，方便检查样品状态，满足试验过程中的观察需求。
4. 规格与性能参数
- 温度范围：-77至205摄氏度（-105至400华氏度），能覆盖多种高低温冲击测试需求。
- 测试性能示例：依据标准883 1010.7，在-65至150摄氏度范围，对22磅集成电路芯片进行测试，恢复时间为15分钟（最坏情况下的产品）。
- 电源要求：主电源为北美标准208V，国际备用电源可选200V、220V、380V或415V。
- 水冷需求：峰值时每分钟9加仑（具体可询问详情）。
- 噪声控制：最大声级（1米远）低于65dB，实现安静操作，减少对环境的干扰。
5. 可用选项
设备提供多种可选配置，包括带彩色显示和压缩闪存的无纸记录仪、条带录音机、计算机接口（IEEE-488或RS-232）、观察孔、额外的STT热电偶输入以及附加柔性电缆管等，可根据实际需求灵活选择。
日本爱斯佩克ESPEC TSD-101-W高低温冷热冲击试验箱，凭借紧凑的设计、智能的控制功能及稳定的性能，为电子芯片等产品的安全性能测试提供了可靠支持，在相关行业的质量检测环节发挥着实用价值。
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