扬州拓普电气科技有限公司提供的BC2690B抗干扰介质损耗测试仪详情说明
仪器概述
抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容容量（Cx）它淘汰了 QS 高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间快等特点。体积小、重量轻是我厂的第二代抗干扰介质损耗测试仪。
技术指标
1、环境温度：0 ～40℃（液晶屏应避免长时日照）
2、相对湿度：30%～70%
3、供电电源：电压：220V±10%、频率：50±1Hz
4、外形尺寸：长×宽×高 500mm×300mm×400mm
5、重量：约18Kg
6、输出功率：0.6KVA
7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位）
8、测量范围及输出电压选择：
介质损耗（tgδ）：±0.00～±999%
试品电容容量（Cx）和加载电压：
2.5KV档:≤300nF(300000pF) 3KV档:≤200nF(200000pF)
5KV档:≤76nF(76000pF) 7.5KV档:≤34nF(34000pF)
10KV档:≤20nF(20000pF)
9、基本测量误差：
介质损耗（tgδ）：1%±7个字(加载电流20uA～500mA)
介质损耗（tgδ）：2%±9个字(加载电流5uA～20uA)
电容容量(Cx)：1.5%±1.5pF
信息整理：抗干扰介质损耗测试仪生产厂家扬州拓普电气科技有限公司
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