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淺談：溫度沖擊試驗和溫度循環(huán)試驗
淺談：溫度沖擊試驗和溫度循環(huán)試驗
溫度沖擊試驗：
升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大，同時試驗嚴酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。
溫度沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的差異主要是應力負荷機理不同。溫度沖擊試驗主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。
溫度沖擊試驗容許使用二槽式試驗裝置；溫度循環(huán)試驗使用單槽式試驗裝置。在二槽式箱體內，溫度變化率要大于50℃/分鐘。
※引起溫度沖擊的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。
※加速應力試驗：加速試驗是使用比在實際環(huán)境中更短的時間，對試驗樣品進行的加速試驗，以考察其失效機理。試驗的加速就是采用加大應力的方法促使試驗樣品在短期內失效。但是必須注意避免其它應力原因引起的失效機理。
溫度循環(huán)試驗：
溫度循環(huán)就是將試驗樣品曝露于予設的高低溫交替的試驗環(huán)境中。為避開溫度沖擊影響，試驗時的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時，為達到蠕變及疲勞損傷的效果，推薦試驗溫度循環(huán)為25℃～100℃，或者也可根據產品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗，曝露時間為各15分鐘。
環(huán)境應力篩選試驗（ESS=EnvironmentalStressScreening）：
對產品施加環(huán)境應力促使早期失效產品存在的潛在缺陷盡快暴露而予以剔除。ESS不是加速可靠性試驗，主要適用于成品的可靠性篩選試驗。也可根據產品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗，曝露時間為各15分鐘。
目前電子組裝業(yè)實施的組裝級無鉛焊接（LeadFreeReliabilityTestforAssemblyLevel）可靠性試驗需要同時使用上述的溫度沖擊試驗及溫度循環(huán)試驗.
un:對產品施加環(huán)境應力促使早期失效產品存在的潛在缺陷盡快暴露而予以剔除。ESS不是加速可靠性試驗，主要適用于成品的可靠性篩選試驗。
溫度沖擊試驗和溫度循環(huán)試驗之比較各種試驗目的及環(huán)境條件：
目的:加速應力試驗加速壽命試驗環(huán)境應力篩選試驗（ESS）
試驗標準:MIL-STD-202Method107IEC60749-25JEDECJESD22-A104-bIEC68-2-1MIL-STD-2164-85
試驗方法:溫度沖擊試驗溫度循環(huán)試驗溫度循環(huán)試驗
試驗環(huán)境:比使用環(huán)境更嚴酷極限使用環(huán)境極限使用環(huán)境
試樣:零部件元器件，焊點（BGA，CSP）成品
試樣尺寸:小小比較大
試驗溫度范圍-40（-55）～125（150）℃-40（-65）～125（150）℃-40（-0）～100℃
溫度變化率1槽法：大于30℃/分鐘(空氣)2槽法：大于50℃/分鐘(空氣)1槽法：小于15℃/分鐘(試樣)1槽法：小于20℃/分鐘(空氣)
加速系數100～500倍比加速試驗加速系數小10～20倍
試驗結果:設計信息設計信息生產品質差異驗證
溫度沖擊試驗：升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。
溫度變化范圍很大，同時試驗嚴酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。
溫度沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的差異主要是應力負荷機理不同。 溫度沖擊試驗主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。
溫度沖擊試驗容許使用二槽式試驗裝置；溫度循環(huán)試驗使用單槽式試驗裝置。在二槽式箱體內，溫度變化率要大于50℃/分鐘。
※引起溫度沖擊的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。
※加速應力試驗：加速試驗是使用比在實際環(huán)境中更短的時間，對試驗樣品進行的加速試驗，以考察其失效機理。試驗的加速就是采用加大應力的方法促使試驗樣品在短期內失效，。但是必須注意避免其它應力原因引起的失效機理。
溫度循環(huán)試驗：溫度循環(huán)就是將試驗樣品曝露于予設的高低溫交替的試驗環(huán)境中。為避開溫度沖擊影響，試驗時的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時，為達到蠕變及疲勞損傷的效果，推薦試驗溫度循環(huán)為25℃～100℃，或者也可根據產品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗，曝露時間為各15分鐘。
環(huán)境應力篩選試驗（ESS=EnvironmentalStressScreening）：
對產品施加環(huán)境應力促使早期失效產品存在的潛在缺陷盡快暴露而予以剔除。ESS不是加速可靠性試驗，主要適用于成品的可靠性篩選試驗。