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K系列 博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀K 系列是客戶測量各種樣品的理想之選，在高度不超過9英寸（228 mm）的工件上具有優于同類產品的12英寸（304 mm...

便攜式超聲探傷儀EPOCH 650EPOCH 650數字式超聲探傷儀將奧林巴斯領xian行業的常規探傷性能及儀器小巧便攜、操作直觀的特點融合在一起。這款探傷儀具...

渦流探傷儀 OmniScan MX ECA/ECT渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用...

奧林巴斯 超聲探傷儀 EPOCH 1000EPOCH 1000系列數字式超聲探傷儀將常規便攜式探傷儀的高級性能和相控陣成像能力結合在一起。EPOCH 1000、...

相控陣掃查器RollerFORM XLRollerFORM XL 掃查器在設計和性能都已經過現場驗證的初款 RollerFORM 掃查器的基礎上研制而成，其集成...

奧林巴斯無損探傷儀OmniScan X3OmniScan X3探傷儀除了繼承以往系列儀器可靠、便利、防水、防塵等優點外，在圖像質量方面取得了長足的進步。針對形狀...

EPOCH 6LS 便攜式超聲探傷儀EPOCH 6LS超聲探傷儀機型簡潔、輕盈便攜、功能齊備，性能可靠。EPOCH 6LS探傷儀專門為ZG野外維護和維修市場而設...

奧林巴斯 測厚儀 Magna-Mike 8600Magna-Mike 8600是一款利用簡單的磁法對非鐵性材料進行可靠且重復性很高的厚度測量的便攜式測厚儀。Ma...

便攜式超聲探傷儀EPOCH 6LT便于攜帶、使用方便的EPOCH 6LT探傷儀是一款符合人體工程學要求的堅固耐用的儀器，不僅可使操作人員得心應手地進行操作，還可...

布魯克 X射線鍍層測厚儀M1 ORA是適用于珠寶行業的臺式X射線鍍層測厚儀，結構緊湊、占用空間小。

鍍層測厚儀M1M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數22號（鈦）-92號（鈾）中的元素...

大尺寸鍍層測厚儀M2 BLIZZARD采用開槽設計，適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品。

納米力學測試系統TI 980一臺優異納米力學測試儀器所需的要求，實驗上的靈活度與可實現性，測量穩定性，以及系統設計的模塊化。

Hysitron 納米力學測試系統可以采用TI Premier 的多種基本配置完成常規測量的研究，同時多樣化的升級選項可以滿足您未來表征的潛在多樣性的需求。

布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE（立方）是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續復位...

DANTE數字脈沖處理器DANTE數字脈沖處理器伽馬射線探測器信號，數字脈沖處理器，前置放大器芯片，X射線信號，前置放大器芯片，SDD探測器，同步輻射光源。

薄膜測厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、快速的光學薄膜厚度測量技術。

反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。

反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。

反射膜厚儀MProbe RT該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。