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線(xiàn)束故障

 

常見(jiàn)的故障有：插接件接觸不良，導(dǎo)線(xiàn)之間的短路、斷路、漏接，導(dǎo)線(xiàn)整體絕緣耐壓等級(jí)故障（外皮性能下降、焊點(diǎn)之間絕緣性能不足等）。

 

原理

低壓導(dǎo)通測(cè)試：給需要測(cè)試的線(xiàn)纜施加一定電流，測(cè)量線(xiàn)纜端點(diǎn)處的電壓值和電流值，由測(cè)試儀內(nèi)部對(duì)測(cè)量結(jié)果使用歐姆定律進(jìn)行換算，得出準(zhǔn)確的電阻值。用此電阻值與用戶(hù)設(shè)定的電阻值進(jìn)行比較，判定是否符合用戶(hù)的指標(biāo)要求，并將判定結(jié)果以“通過(guò)”或“不通過(guò)”的明確信息形式顯示在計(jì)算機(jī)上告之用戶(hù)。

絕緣測(cè)試：在通過(guò)低壓導(dǎo)通測(cè)試后，進(jìn)行絕緣測(cè)試。絕緣測(cè)試時(shí)，測(cè)試儀對(duì)需要測(cè)試的線(xiàn)纜施加一定的高電壓，其余的線(xiàn)纜將其接到地線(xiàn)上，測(cè)量線(xiàn)纜間的電流，如果電流超過(guò)用戶(hù)設(shè)定的電流值，則認(rèn)為線(xiàn)纜不合格。滿(mǎn)足用戶(hù)設(shè)定的電流值的情況下，測(cè)量出此時(shí)的絕緣電阻值。并將判定結(jié)果以“通過(guò)”或“不通過(guò)”的明確信息形式顯示在計(jì)算機(jī)上告之用戶(hù)。

耐壓測(cè)試：對(duì)需要測(cè)試的線(xiàn)纜施加一定時(shí)間的高電壓，測(cè)量線(xiàn)纜上的電流，如果實(shí)際電流超過(guò)用戶(hù)設(shè)定的電流值，則認(rèn)為線(xiàn)纜不合格。并將判定結(jié)果以“通過(guò)”或“不通過(guò)”的明確信息形式顯示在計(jì)算機(jī)上告之用戶(hù)。

 

參數(shù)

導(dǎo)通測(cè)試

檢測(cè)線(xiàn)纜的導(dǎo)通性能（開(kāi)路、短路、錯(cuò)焊、漏焊等故障），導(dǎo)通測(cè)試可以根據(jù)用戶(hù)的測(cè)試精度和阻值情況靈活選擇2線(xiàn)或4線(xiàn)測(cè)試方式。

2線(xiàn)測(cè)試方式

測(cè)試電壓：0.1 V -20 V 測(cè)試電流：10 mA - 2.5 A 導(dǎo)通低阻：1 Ω- 2 kΩ 導(dǎo)通高阻：1 Ω - 2 kΩ 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 99 s 測(cè)試精度：± 2%

4線(xiàn)測(cè)試方式

測(cè)試電壓：0.1 V -20 V 測(cè)試電流：10 mA - 2.5 A 導(dǎo)通低阻：1 mΩ - 2 kΩ 導(dǎo)通高阻：1 mΩ - 2 kΩ 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 99 s 測(cè)試精度：± 2%

絕緣測(cè)試

檢測(cè)線(xiàn)纜的整體質(zhì)量（劃傷、針腳彎曲、絕緣等故障），絕緣測(cè)試可以根據(jù)用戶(hù)的要求或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)自行設(shè)置絕緣電阻值范圍。如航天、航空或軍事應(yīng)用等領(lǐng)域比一般工業(yè)應(yīng)用需要更高絕緣阻值要求。

測(cè)試電壓：2VDC -2120VDC (由測(cè)試板卡類(lèi)型決定) 絕緣阻值： 50 kΩ- 5 GΩ 測(cè)試精度： 50 kΩ-5GΩ 短路電流： 2 V - 20 V : 40 mA 20 V - 2120 V : 10mA

上升/下降時(shí)間： 1 ms -60 s 測(cè)試時(shí)間： 1 ms - 999 s

耐壓測(cè)試(高壓)

檢測(cè)線(xiàn)纜的整體質(zhì)量（耐壓、接地、劃傷、破損、彎曲針腳、絕緣等故障）耐壓測(cè)試更能體現(xiàn)線(xiàn)纜的隱性故障。不同的線(xiàn)纜類(lèi)型可以選擇不同的電壓（電源、高低頻線(xiàn)纜、總線(xiàn)、網(wǎng)絡(luò)線(xiàn)纜、通訊線(xiàn)纜等。）

~ DC耐壓測(cè)試

測(cè)試電壓：2 V - 6000 VDC (由測(cè)試板卡類(lèi)型決定) 擊穿電流： 500 μA -100 mA 上升/下降時(shí)間： 1 ms -60 s 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 999 s

~ AC耐壓測(cè)試

測(cè)試電壓：100 V - 5000 VAC (由測(cè)試板卡類(lèi)型決定) 擊穿電流： 500 μA -100mA 泄漏電流：500 μA - 100 mA 上升/下降時(shí)間： 1 ms -60 s 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 999 s