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X射线荧光光谱仪,X荧光光谱仪
主要技术参数：
型号：DX-320L
测试对像：粉未、固体、液体
元素分析范围：钠（Na）—铀（U）
含量分析范围：1PPM—99.99%
测量时间：30—200秒
探测器：电制冷SDD半导体探测器
仪器分辨率：127eV±5
zui低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppm CL≤5ppm
Sb/Se/Ba/Pb/As/Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppm，CL≤5ppm（八大重金属）
多道分析器：2048道
输入电压：AC 220V±10%，50HZ（建议配稳压电源）
额定功率：300W（带电脑）
环境湿度：30%--80%
外型尺寸：660mm×480mm×330mm
测量仓：440mm×350mm×150mm
仪器重量：62公斤
标准配置:
高低压电源（美国Spellman进口）
大功率X光管（英国Oxford牛津进口）
电制冷半导体探测器（美国AMPTEK进口）
多道分析器（美国进口）
控制电路
高压单元
移动样品台
高清晰CCD
准直器：含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一个
滤光片：5组滤光片
计算机：品牌商务电脑（内存2G、硬盘200G），17寸液晶显示器
打印机：彩色喷墨打印机
X射线荧光光谱仪,X荧光光谱仪
应用范围：
针对企业应对欧盟、北美RoHS环保指令精心设计。不但可以测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、锑、硒、砷等重金属，还能测试无卤素指令的溴、氯等有害元素及地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析；已在有色金属、连接器、端子、印刷、玩具、服饰、医疗设备、地矿、电子、电器、五金、PCB、半导体、通信、电镀、首饰、手表、汽车、钢铁、皮革等行业得到广泛应用。
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